[实用新型]用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘有效
| 申请号： | 201720556254.0 | 申请日： | 2017-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN206709771U | 公开（公告）日： | 2017-12-05 |
| 发明（设计）人： | 李子帙;江志聪 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨理工大学 |
| 主分类号： | G01B5/30 | 分类号： | G01B5/30;G01B5/20 |
| 代理公司： | 哈尔滨东方专利事务所23118 | 代理人： | 陈晓光 |
| 地址： | 150080 黑龙江省*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 测量 高分子材料 形状 回复 固定 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘，其组成包括：试样形变度量标尺和试样度量支撑底盘，其特征是：所述的试样形变度量标尺与试样贴紧，试样形变度量标尺与试样度量支撑底盘靠两个平行凹凸槽联结固定，所述的试样度量支撑底盘内嵌入有形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率被测试样，所述的试样形变度量标尺的尺寸与相关试样相对应，所述的试样形变度量标尺的刻度与相关加热干燥箱试样相对应。
2.根据权利要求1所述的用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘，其特征是：所述的试样形变度量标尺由透明的高分子材料加工而成，所述的试样形变度量标尺的刻度是对称的，0度在中轴，从中心线往两侧刻成均匀对称的度盘，左边和右边最大刻度值均为90度。
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