[实用新型]一种用于晶振测试盘的卸料装置有效

专利信息
申请号: 201720533009.8 申请日: 2017-05-15
公开(公告)号: CN206740808U 公开(公告)日: 2017-12-12
发明(设计)人: 虞亚军 申请(专利权)人: 广东惠伦晶体科技股份有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;H03H9/15
代理公司: 深圳市智圈知识产权代理事务所(普通合伙)44351 代理人: 韩绍君
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测试 卸料 装置
【权利要求书】:

1.一种用于晶振测试盘的卸料装置,其特征在于,包括机台,所述机台上设置有一卸料组件,所述卸料组件包括固定于机台的一对互相平行且间隔设置的垫块,所述一对垫块上支撑起一块水平设置的漏板,所述漏板上设置有呈矩形阵列排布的上下贯通的漏孔阵列,所述漏板上方固定设置有一龙门式支架,所述龙门式支架下方、漏板上方设置有弹性固定座,所述弹性固定座的两端通过弹性部件连接至漏板上,所述弹性固定座底部两侧边设置有固定测试盘的卡槽,所述弹性固定座上方设置有压板,所述压板连接至一气缸的活塞杆底端,所述气缸安装在龙门式支架上方,龙门式支架上设置有气缸活塞杆穿过的通孔。

2.根据权利要求1所述的用于晶振测试盘的卸料装置,其特征在于,所述漏孔在漏板上表面呈正方形,在漏板下表面呈圆形。

3.根据权利要求2所述的用于晶振测试盘的卸料装置,其特征在于,所述圆形的直径大于或等于正方形对角线的长度。

4.根据权利要求3所述的用于晶振测试盘的卸料装置,其特征在于,所述测试盘上设置有与漏孔阵列一一对应的多个测试夹具。

5.根据权利要求4所述的用于晶振测试盘的卸料装置,其特征在于,还包括一接料盘,所述接料盘设置在一对垫块之间、漏板下方。

6.根据权利要求5所述的用于晶振测试盘的卸料装置,其特征在于,还包括一操作开关,所述操作开关通过电磁阀对气缸进行控制。

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