[实用新型]一种用于测试装置的具多重浮动下压机构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置的下压机构的技术领域，尤其涉及一种提供稳定的多触点下压机构，能提供平均的施力及确保各触点被施压的记忆装置处于良好电性接触状态。

背景技术

记忆卡(memory card)，是一种固态电子快闪存储器资料储存装置，多为卡片或者方块状，在出厂前会置放于测试装置进行相关的测试。当记忆卡放置于测试装置之待测区时，会利用下压装置施压于所述记忆卡上，确保记忆卡与测试装置维持良好电性连接状态，以利进行相关测试。然而习用的下压装置至少具有下列几项缺点：

若为单点下压式，如果要同时进行多个记忆卡的测试，相对地就需要多组下压装置，使得结构过于复杂，设备成本高，无法提升测试效率。

若为同平面式多点下压，其中多点不超过8点，因为是采用同平面的平台下压，部分放置于待测试区内的记忆卡，可能存在不同一水平面的情况，导致有些施压过度或有些过轻，无法提供平均的接触力，容易造成部分记忆卡接触不良，影响测试良率。如果一次欲同时进行更多记忆卡测试，亦需更多组下压装置配合使用，结构也相对复杂。

实用新型内容

为解决上述下压作业中，无法满足多触压下压，例如120触点或是更多，维持均定施力的技术问题，确保测试的良率，本实用新型提供一种用于测试装置的具多重浮动下压机构，以克服现有技术的不足。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种用于测试装置的具多重浮动下压机构，包括驱动汽缸、基座、均压板、弹性件、以及数个浮动压柱，所述驱动汽缸结合于所述基座顶部，所述基座具有向下延伸的数支撑部，所述支撑部下方连接着固定板，所述固定板具有数个限位孔；所述均压板安装于所述基座与所述固定板之间，且被限制仅能在两者间上、下移动；所述弹性件安装于所述基座与所述均压板之间；所述浮动压柱的一端固定于所述均压板底面，所述浮动压柱的身部经位置相对的所述限位孔延伸出来，所述浮动压柱的另一端设有弹性压头。

藉此，当所述浮动压柱下压于测试座上的记忆装置，由固定板维持着所述数个浮动压柱自由上下移动及整体的刚性，所述弹性件与所述均压板平衡接触反作用力及偏移量，进而使 所述数个浮动压柱施加一平均压力抵压测试座内的每一个记忆装置。

作为本实用新型的优选方案之一，所述浮动压柱为单一柱体，但并不以此为限。所述浮动压柱可为两截式套管，包括外管、内管及弹簧，所述内管设于外管内并能沿轴向移动，所述弹簧设置于由所述外管及所述内管套接后的内部空间，所述弹性压头结合于所述外管底端。

藉此每个浮动压柱皆具有独立的浮动调整缓冲机制，如此一来，当所述数个浮动压柱下压于数个记忆储存单元，利用双重浮动调整设计，不管触点数为120或是更多，皆可确保每个触点的记忆装置紧密被压置于测试座。

作为本实用新型的优选方案之一，所述均压板还具有数个贯穿的导槽，所述的数个导槽用以供所述的数个支撑部通过，使所述均压板被限制于所述基座与所述固定板之间无法分离。

与现有技术相比，本实用新型的优点至少在于：

1)本实用新型能有效解决多触点稳定的接触问题。

2)本实用新型的整体结构简易，成本低，易安装，刚性高(不易变形)。

3)下压触点数目可一次可达100个以上，且维持良好的接触效果，确保测试的良率，故可一次可测试更多个记忆装置，相对提升测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述中或现有技术中所需要使用的附图作简单地介绍。

图1为本实用新型提供的一种用于测试装置的具多重浮动下压机构的侧视图；

图2为本实用新型提供的一种用于测试装置的具多重浮动下压机构的部分构件的剖面示意图；

图3A为本实用新型提供的浮动压柱的另一实施例图；

图3B为本实用新型另一实施例的浮动压柱被压缩状态的示意图；

图4为本实用新型提供的一种用于测试装置的具多重浮动下压机构的实际测试的示意图。

附图标记说明：10-驱动汽缸，20-基座，21-支撑部，22-固定板，23-限位孔，30-均压板，31-导槽，40-弹性件，50-浮动压柱，51-弹性压头，50A-浮动压柱，52-外管，53-内管，54-弹簧，60-测试座。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、 完整地描述。