[实用新型]一种微波频率测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及微波频率测试技术领域，具体涉及一种微波频率测试系统。

背景技术

微波频率测试仪是一种精密的对微波频率的测量的专用设备，用于检测移动通信网络中广泛使用的无线电微波的频率。随着我国无线电设备的使用越来越多，对于无线电产品的频率测试的需求也越来越多，微波频率测试仪已成为无线产品生产厂商生产测试用的必备检测仪器。

目前市场上的微波频率测试仪一般都是适用于2.4GHz产品的测试，不适用于更高频率的测试，因此无法全面的适用于整个市场，如果要测试更高频率，则需更专业的设备，浪费资源，生产效率降低。

实用新型内容

本申请通过提供一种微波频率测试系统，以解决现有微波频率测试仪不适用于高频率测试的技术问题。

为解决上述技术问题，本申请采用以下技术方案予以实现：

一种微波频率测试系统，包括微处理器、低频信号分频单元、高频信号64分频单元、高频信号八分频单元、LDO电源单元以及显示单元，其中，所述低频信号分频单元包括低频信号线性放大器、整形电路及数字32分频电路，所述高频信号64分频单元包括三个串接的四分频电路及低频信号线性放大器，所述高频信号八分频单元包括一个四分频电路及低频信号线性放大器，所述LDO电源单元分别与所述微处理器、低频信号分频单元、高频信号64分频单元、高频信号八分频单元以及显示单元相连，所述微处理器与所述数字32分频电路相连，对分频后的待测信号进行处理，计算出微波信号的频率，并在所述显示单元进行显示。

进一步地，所述微处理器采用AT91SAM7X256，所述LDO电源单元采用TPS72710DSER。

与现有技术相比，本申请提供的技术方案，具有的技术效果或优点是：该微波频率测试系统能够测量DC～18GHz频率范围内的微波，结构简单，测试效率高。

附图说明

图1为系统的结构框图；

图2为低频DC～30MHz的工作原理框图；

图3为高频30MHz～3GHz的工作原理框图；

图4为高频3GHz～18GHz的工作原理框图；

图5为LDO电源单元电路原理图；

图6为八分频电路原理图；

图7为64分频电路原理图。

具体实施方式

本申请实施例通过提供一种微波频率测试系统，以解决现有微波频率测试仪不适用于高频率测试的技术问题。

为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式，对上述技术方案进行详细的说明。

实施例

一种微波频率测试系统，如图1所示，包括微处理器、低频信号分频单元、高频信号64分频单元、高频信号八分频单元、LDO电源单元以及显示单元，其中，所述低频信号分频单元包括低频信号线性放大器、整形电路及数字32分频电路，所述高频信号64分频单元包括三个串接的四分频电路及低频信号线性放大器，所述高频信号八分频单元包括一个四分频电路及低频信号线性放大器，所述LDO电源单元分别与所述微处理器、低频信号分频单元、高频信号64分频单元、高频信号八分频单元以及显示单元相连，所述微处理器与所述数字32分频电路相连，对分频后的待测信号进行处理，计算出微波信号的频率，并在所述显示单元进行显示。

该微波频率测试系统将DC～18GHz分为三个频段进行测试：DC～30MHz、30MHz～3GHz、3GHz～18GHz。下面将对各个频段测试的工作原理进行介绍：

1、低频DC～30MHz频段测试工作原理，如图2所示。

将待测DC～30MHz信号送入低频信号分频单元，该待测信号先通过低频信号线性放大器放大，通过整形电路将正弦信号整形成方波，通过数字32分频电路进行32分频，将分频后的信号送入微处理器处理，计算得出准确的频率，通过显示单元显示，在此将上述低频信号分频单元、微处理器、LDO电源单元以及显示单元统称为101模组。

2、高频30MHz～3GHz频段测试工作原理，如图3所示。

待测30MHz～3GHz信号依次通过三个串接的四分频电路，将30MHz～3GHz信号进行64分频，然后通过低频信号线性放大器放大，通过整形电路将正弦信号整形成方波，送入到101模组进行相应的处理，最后由显示单元显示频率。

3、高频3GHz～18GHz频段测试工作原理，如图4所示。