[实用新型]一种微型钎焊接头电迁移测试结构有效

专利信息
申请号: 201720494847.9 申请日: 2017-05-05
公开(公告)号: CN207020209U 公开(公告)日: 2018-02-16
发明(设计)人: 汉晶;郭福;刘建萍;王雁;王乙舒 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/00
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司11203 代理人: 张立改
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 微型 钎焊 接头 迁移 测试 结构
【权利要求书】:

1.一种微型钎焊接头电迁移测试结构,其特征在于,两个焊盘之间采用钎料焊膏重熔焊接成钎料接头,钎料对接接头采用环氧树脂粘附于基板上,钎料接头至少有一个侧面表面作为钎料对接接头截面,此作为截面的侧面表面是经过研磨抛光的。

2.按照权利要求1所述的一种微型钎焊接头电迁移测试结构,其特征在于,两个焊盘的焊接面为平面,两焊接面平行,焊接面垂直基板。

3.按照权利要求2所述的一种微型钎焊接头电迁移测试结构,其特征在于,两个焊盘为柱型结构,焊接面为端面。

4.按照权利要求1所述的一种微型钎焊接头电迁移测试结构,其特征在于,基板为印刷电路板。

5.按照权利要求1所述的一种微型钎焊接头电迁移测试结构,其特征在于,接头形式为对接或搭接。

6.按照权利要求1所述的一种微型钎焊接头电迁移测试结构,其特征在于,所述钎料为Sn基的二元合金、三元合金或四元合金。

7.按照权利要求6所述的一种微型钎焊接头电迁移测试结构,其特征在于,二元合金选自SnCu系列、SnAg系列、SnZn系列、SnBi系列或SnIn系列,三元合金选自SnAgCu系列、SnAgBi系列或SnAgIn系列,四元合金选自SnAgBiIn系列无铅钎料。

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