[实用新型]一种手持式擦拭采样装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种擦拭采样装置及方法，特别是涉及一种采集物体表面样品的手持式擦拭采样装置。

背景技术

离子迁移谱(Ion Mobility Spectrometry,IMS)技术是20世纪70年代出现的一种分析检测技术，80年代该技术被应用于现场分析检测，它的基本原理是利用和样品离子的结构、质量、电荷数等因素有关的离子迁移率实现不同样品的定性分析。近年来，基于IMS技术的离子迁移谱仪被广泛应用于化学战剂、爆炸物和毒品的现场监测。除了少数的易挥发样品可以用吸气采样外，其他样品，如不易挥发的固体样品和液体样品的采样是离子迁移谱仪实际应用的关键问题之一。目前，人们通常将擦拭法用于不易挥发样品的采样。擦拭法主要有以下两种方法：

一、直接擦拭

这种方式是佩戴手套手持条状采样纸(美国专利US5476794A)，或手持具有特殊形状的采样载体直接擦拭物品表面采样。在美国专利US5571976中公开了一种手套式采样载体，其包括由柔软材料制成的顶层和底层，将二者的三边即两侧及后缘叠在一起封合，只留第四边即前缘作为用户手指可以插入的开口，大小可容纳两只手指。操作者用装有此装置的手指擦拭待测物的表面，收集样品，随后将其放置在支撑框架上，插入分析装置的入口进行分析。为了避免手与物品表面接触(手被污染会干扰后面的采样与检测)或容纳手指的宽度，不得不将采样纸做得较大，相应地将仪器的进样口也做的很大。这样不仅浪费采样纸，更重要的是大的进样口具有很多缺陷：一是热量不集中，加热效率低，影响到仪器检测灵敏度；二是电能消耗大，缩短电池工作时间，需要频繁更换电池，影响仪器的使用性能。

二、用擦拭装置擦拭

用擦拭装置擦拭，即利用采样装置的采样头，夹持采样载体对物品表面进行擦拭，如美国专利US5859375A和PCT专利WO2007069088A3所述，所用的手持式采样装置一般都具有手柄、采样头以及将样品载体固定在采样头的装置。应用时，将样品载体安装在采集部位，在人手不和物体表面接触的条件下，实现对物体表面样品的快速采集。这种方法克服了直接擦拭有可能带来的污染问题，同时也可实现对难以触及的区域进行样品采集。但这种采样器的缺点是采样载体易被折弯而形成褶皱，从而不利于后面的进样。中国专利CN 101363778 B 和CN201611316 U则提出了一种具有平滑过渡的连续曲面的擦拭采样器，可以避免采样载体的变形和褶皱。但是由于采样载体储存装置和擦拭采样装置分开，人们很难实现快速的联系现场采样。为此，中国专利CN 101571458 B和CN 101571457 B在手持式擦拭采样装置的手持部分设计了连续采样载体仓，可安装和使用经折叠的连续采样载体。但是这种手持式擦拭采样装置结构复杂，加工工艺繁琐，故障率高，不适于量产。另外，目前具有平滑过渡的连续曲面的擦拭采样器，均将采样载体直接压在连续曲面上，采样载体容易脱落，不易安装。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种结构简单、操作方便和故障率低，采样载体不容易脱落，同时能够连续提供采样载体的手持式擦拭采样装置。

为解决上述技术问题，本实用新型通过下述技术方案来解决：

一种手持式擦拭采样装置，由连接在一起的手持部分和擦拭采样部分组成，其特征在于，所述擦拭采样部分包括采样擦拭组件和采样载体储存组件，所述采样载体储存组件设置在采样擦拭组件内，所述采样擦拭组件的前端和上侧面是平滑过渡的采样擦拭面，所述采样擦拭面为平滑过渡的连续曲面，该连续曲面上贴覆有采样载体。

本实用新型所述的手持式擦拭采样装置，将采样载体的储存和擦拭采样结合在一个装置中，简化了采样载体的储存，方便于携带，同时由于预先装置了大量的采样载体，可以实现现场连续快速采样；采样擦拭面为平滑过渡的连续曲面，使采样纸在擦拭时既能与物品表面充分接触，提高擦拭效率，同时又避免采样载体产生难以恢复的变形和褶皱，保证后续检测的顺利进行。

具体的，所述采样擦拭组件包括采样擦拭面、旋转压盖及旋转上盖，所述旋转压盖、旋转上盖与擦拭采样部分形成容纳采样载体储存组件的空腔，所述旋转压盖的一端通过第一转轴安装在采样擦拭面上，所述旋转压盖的另一端设有与擦拭采样部分形成卡扣配合的第一操作钮，所述旋转上盖的一端通过第二转轴安装在采样擦拭面上，所述旋转上盖的另一端设有与手持部分形成卡扣配合的第二操作钮。上述结构将采样载体储存组件的固定于空腔内，通过第一操作钮、第二操作钮就可以锁紧和松开旋转压盖及旋转上盖，简化了结构和加工工艺。