[实用新型]一种集成电路测试治具和集成电路测试装置

权利要求书

1.集成电路测试治具，其特征在于：包括承载板、测试座和压紧构件，所述压紧构件、测试座和承载板由上至下依次安装在一起，所述测试座包括方框架，所述方框架的内框嵌入有方框块，所述方框架的上部左右两侧边分别设置有第一压紧块和第二压紧块，所述方框架的四角边均设置有贯通孔，每个所述贯通孔均插装有导杆，所述导杆的上部设置有压缩弹簧，所述导杆的下部形成有螺纹，所述方框架的上端左侧部前后边均设置有第一支座，所述方框架的上端右侧部前后边均设置有第二支座，所述第一压紧块通过第一转杆连接在两个第一支座之间，所述第二压紧块通过第二转杆连接在两个第二支座之间。

2.如权利要求1所述的集成电路测试治具，其特征在于：两个所述第一支座分别与第一转杆的前后端连接处之间还设置有第一支座孔，两个所述第二支座分别与第二转杆的前后端连接处之间还设置有第二支座孔。

3.如权利要求1所述的集成电路测试治具，其特征在于：所述第一压紧块的前后端面还贯通有第一滑槽孔，所述第一滑槽孔插装有第一转轴，所述第二压紧块的前后端面还贯通有第二滑槽孔，所述第二滑槽孔插装有第二转轴。

4.如权利要求1所述的集成电路测试治具，其特征在于：所述承载板的中间部位形成有方槽，所述方槽的中间位置设置有方凸台。

5.如权利要求1所述的集成电路测试治具，其特征在于：所述方框架前端面中间位置分别设置有第一导槽和第一卡槽，所述方框架后端面中间位置分别设置有第二卡槽和第二导槽。

6.如权利要求1所述的集成电路测试治具，其特征在于：所述方框架的左端上部设置有两个第三卡槽，所述方框架的右端上部设置有两个第四卡槽，所述压紧构件的左侧边下部设置有与第三卡槽配合连接第三卡扣，所述压紧构件的右侧边下部设置有与第四卡槽配合连接第四卡扣。

7.如权利要求1所述的集成电路测试治具，其特征在于：所述压紧构件的前端面下部分别设置有与第一导槽配合连接的第一导板，与第一卡槽配合连接的第一卡扣，所述压紧构件的后端面下部分别设置有与第二导槽配合连接的第二导板，与第二卡槽配合连接的第二卡扣。

8.如权利要求1所述的集成电路测试治具，其特征在于：所述压紧构件的内顶部四角边分别设置有与压缩弹簧配合连接的圆槽。

9.如权利要求3所述的集成电路测试治具，其特征在于：所述压紧构件的下部左右两侧边分别设置有第三支座和第四支座，所述第一转轴的两端固定在第三支座上，所述第二转轴固定在第四支座上。

10.集成电路测试装置，其特征在于：包括测试电路板，所述集成电路测试装置还包括如权利要求1至9项中任意一项所述的集成电路测试治具，所述集成电路测试治具的导杆螺纹通过螺栓固定在测试电路板上。