[实用新型]一种温度自补偿的化合物半导体功率放大器有效
| 申请号: | 201720422466.X | 申请日: | 2017-04-21 |
| 公开(公告)号: | CN206672918U | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
| 发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 夏令 |
| 主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L25/07 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 100093 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 温度 补偿 化合物 半导体 功率放大器 | ||
1.一种化合物半导体功率放大器,包括放大器封装外壳(7)、化合物半导体肖特基二极管(5),高电子迁移率晶体管(6),信号输入接口(1)、肖特基二极管阴极接口(2),高电子迁移率晶体管源极接口(3),高电子迁移率晶体管漏极接口(4),其特征在于:上述肖特基二极管的阳极金属层(13)与上述高电子迁移率晶体管栅极金属层(20)结构相同,上述肖特基二极管的势垒层(15)与上述高电子迁移率晶体管隔离层(18)采用同一种化合物半导体,上述肖特基二极管的阳极金属层(13)与上述高电子迁移率晶体管栅极金属层(20)通过导电线连接并与上述信号输入接口(1)连接。
2.根据权利要求1所述的化合物半导体功率放大器,其特征在于,上述肖特基二极管的势垒层(15)与上述高电子迁移率晶体管隔离层(18)采用的化合物半导体为铝镓砷AlxGa1-xAs (0<= x <= 1)。
3.根据权利要求1所述的化合物半导体功率放大器,其特征在于,上述肖特基二极管的势垒层(15)与上述高电子迁移率晶体管隔离层(18)采用的化合物半导体为铝镓氮AlyGa1-yN(0<= y <= 1)。
4.根据权利要求1所述的化合物半导体功率放大器,其特征在于,上述肖特基二极管的阳极金属层(13)与上述高电子迁移率晶体管栅极金属层(20)采用的金属结构包含镍(Ni)、金(Au)、铂(Pt)、钛(Ti)、铝(Al)、钨(W)中的一种。
5.根据权利要求1所述的化合物半导体功率放大器,其特征在于,上述肖特基二极管的势垒层(15)与上述高电子迁移率晶体管隔离层(18)的厚度大于0.1纳米并小于200纳米。
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