[实用新型]一种键盘检测设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子元件检测设备领域，尤其涉及一种检测键盘按键的新型键盘检测设备。

背景技术

键盘是最常用也是计算机系统中最主要的输入设备，通过敲打键盘上的按键使触电导通断电，从而将字母、数字、标点符号等输入到计算机中。目前，键盘生产中，对成品进行质量检测时，需要对每一个按键进行击打，测试其回弹和触点的通断，击打时力度要适中，行程要一致，施力和撤力要在瞬间完成。

现有键盘测试设备，通过电磁阀的通断，来控制一颗砝码，通过将砝码击打到第一按键上来测试信号，判断第一按键与键盘的电路板的电路开关是否对应导通，其检测功能比较单一，只能测试按键的开/关功能。

因此，有必要设计一种新的键盘检测设备，以克服上述缺陷。

需要说明的是，“背景技术”段落只是用来帮助了解本实用新型内容，因此在“背景技术”段落所揭露的内容可能包含一些没有构成所属技术领域中普通技术人员所知道的公知技术。在“背景技术”段落所揭露的内容，不代表该内容或者本实用新型一个或多个实施例所要解决的问题，也不代表在本实用新型申请前已被所属技术领域中普通技术人员所知晓或认知。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种键盘检测设备，可对同一按键进行至少两种项目的测试。

为达到上述目的，本实用新型提供了一种键盘检测设备，用于测试键盘的第一按键，该键盘检测设备包括，

控制装置；

驱动装置；

第一测试部，与该控制装置连接，藉由该控制装置的控制实现移动，以第一力击打该第一按键；

第二测试部，与该驱动装置连接，藉由该驱动装置实现移动，以第二力击打该第一按键，该第二测试部具有通孔，该第一测试部穿设该通孔，且该第二测试部和该第一测试部可相对移动；

其中，该第一力的大小不等于该第二力的大小，该第一测试部和该第二测试部可分别击打该第一按键以检测该第一按键的不同参数，且当该第一测试部进行测试时，该第一测试部于该第二测试部内自由移动。

较佳的，该第一力的大小大于该第二力的大小。

较佳的，该第一测试部的重量大于该第二测试部的重量从而使该第一力大于该第二力。

较佳的，该第一测试部包括相连的第一部和第二部，该第一部和该第二部沿该第一方向分布，该第二部穿设于该通孔内，该第一测试部还包括沿该第一方向的相对的第一端和第二端，该第一端位于该第一部，该第一端与该控制装置连接，该第二端位于该第二部上，该第二端用于击打该第一按键，该第一部和该第二测试部之间具有间距，以提供该第一测试部相对该第二测试部移动以击打该第一按键的空间，其中，该第一方向为该第一测试部移动击打该第一按键的方向，该第二方向垂直于该第一方向。

较佳的，该第二测试部沿该第一方向具有相对的第三端和第四端，该第三端与该驱动装置连接，该第四端用于击打该第一按键。

较佳的，当该第一测试部击打该第一按键时，该第二端凸出该第四端，以藉由该第二端击打该第一按键，当该第二测试部击打该第一按键时，该第四端凸出该第二端，以藉由该第四端击打该第一按键。

较佳的，该控制装置控制该第一测试部进行自由落体运动以击打该第一按键。

较佳的，该键盘检测设备还包括导向结构，该导向结构用于导引该第一测试部沿该第一方向移动，该第一方向为该第一测试部移动击打该第一按键的方向。

较佳的，一个该第一测试部和一个该第二测试部构成一个测试组，该键盘检测设备包括多个测试部，以同时测试多个第一按键。

较佳的，该第一测试部藉由拉钩或者弹性元件与该控制装置连接。

较佳的，该键盘检测设备用于对该第一按键进行键硬、键软、灵敏度、死键以及开/关功能项目测试，其中，该第一测试部用于对该第一按键进行键硬、键软、灵敏度、死键以及开/关功能项目中的至少其中的一个项目进行测试，该第二测试部用于对该第一按键进行键硬、键软、灵敏度、死键以及开/关功能项目中的至少其中的一个项目进行测试，且该第一测试部测试的项目与该第二测试部测试的项目不相同。

较佳的，该控制装置为电磁阀，该第一测试部为实心砝码，该第二测试部为空心砝码，该驱动装置为可移动导向板。