[实用新型]一种用于激光二极管芯片的计数器

说明书

技术领域

本实用新型涉及图像识别计数技术领域，尤其涉及一种用于激光二极管芯片的计数器。

背景技术

图像识别计数系统应用较为广泛，例如细胞计数，粮食计数，工业品计数等。通过摄像系统拍摄被计数的物体，使用预先设置好的图像算法，找出需要识别的目标物体，通过目标物体与预设图像的比较关联来进行计数。

在现有技术中，常用的应用于激光芯片计数的计数器如图1所示。CCD(charge-coupled device，电子耦合元件)图像传感器11及镜头12置于被拍摄激光芯片13的上方，激光芯片13承载于蓝膜/UV膜14的上方，光源15置于蓝膜/UV膜14的下方。调整好镜头焦距，拍摄的图像如图2所示，通过拍摄出的图像预处理后进行面积计算，根据外形及面积，与预设值图形相似度较高的计为一个芯片。计算整个指定图像范围的芯片的面积就可以得到整个芯片的数量。

然而，现有技术比较难以适用芯片缝隙间距较窄的情况，CCD图像传感器容易受光源衍射影响，使得拍摄效果较差。需要调低亮度以解决CCD图像传感器对局部光源衍射过于敏感的情况，容易形成图示2芯片连在一起的情况。

另外，现有技术中光源一般使用侧置LED光或者阵列式LED光源解决照射均匀性问题，其均匀性都是通过导光板进行处理，但由于大面积均匀光源需要筛选LED亮度等，很难使光源非常均匀。侧置光源比较适合较大的元器件。阵列式面光源适合相对小的元器件，但间距不能太窄。且价格非常昂贵，面积做大就更为昂贵。亮度较高时均匀性容易保障，亮度较低时均匀性很难保障。

实用新型内容

针对现有技术中用于激光芯片的计数器光源均匀性差、计数精度低的缺陷，本实用新型提供一种光源均匀性高、计数精度高的激光芯片用计数器。

本实用新型就上述技术问题而提出的技术方案如下：

一方面，提供了一种用于激光二极管芯片的计数器，包括：用于通过获取激光二极管芯片图像而计算芯片数量的CCD图像传感器、镜头以及第一偏光片，用于承载所述激光二极管芯片的蓝膜/UV膜，以及用于为所述激光二极管芯片提供均匀光源的电致有机发光光源和第二偏光片；其中所述CCD图像传感器与所述镜头连接，所述第一偏光片位于所述激光二极管芯片的上方并靠近所述镜头；所述第二偏光片位于所述蓝膜/UV膜的下方，所述电致有机发光光源位于所述第二偏光片的下方。

优选地，所述蓝膜/UV膜上承载了多个所述激光二极管芯片，多个所述激光二极管芯片通过所述蓝膜/UV膜上预涂覆的胶粘接在一起并且相互之间保留一定的间隙。

优选地，所述第二偏光片的尺寸明显大于所述第一偏光片的尺寸。

实施本实用新型实施例，具有如下有益效果：本实用新型主要采用一种新型电致有机发光光源，均匀性都比阵列LED、侧置式LED高，作为背部照射。由于其发射线较为均匀，亮度适中，在较为狭小的缝隙也能够很清晰成像。采用偏光片在光源输出时做光线偏振，在图像照射时用偏光片检测偏振光，减少背景光及环境光的照射影响。通过以上方式，可以提高拍摄质量，减少芯片之间连接的及模糊问题，提高激光芯片计数精度。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有技术中用于激光芯片的计数器结构示意图；

图2是现有技术中的计数器拍摄的激光芯片图像示意图；

图3是本实用新型提供用于激光二极管芯片的计数器结构示意图；

图4是本实用新型提供的计数器拍摄的激光二极管芯片的图像示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。