[实用新型]一种多功能半导体电学性质快速测试装置有效
申请号: | 201720385657.3 | 申请日: | 2017-04-13 |
公开(公告)号: | CN206594265U | 公开(公告)日: | 2017-10-27 |
发明(设计)人: | 张伟;张树霞 | 申请(专利权)人: | 马鞍山纽盟知识产权管理服务有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/04 |
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地址: | 243000 安徽省马*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多功能 半导体 电学 性质 快速 测试 装置 | ||
1.一种多功能半导体电学性质快速测试装置, 包括测试盒本体(1),其特征在于:所述测试盒本体(1)分为测试盒底座(2)和测试盒上盖(3),所述测试盒底座(2)和测试盒上盖(3)活动连接,所述测试盒底座(2)内设有多个卡槽(4),且所述卡槽(4)内固定有帕尔贴片(5),所述卡槽(4)的前端设有测试探针(6),且所述测试探针(6)连接设置在测试探针(6)下方的弹性伸缩组件(7)。
2.根据权利要求1所述的一种多功能半导体电学性质快速测试装置,其特征在于:所述弹性伸缩组件(7)包括滑动轴(8)、滑动轴承(9)、固定块(10)、压缩弹簧(11)、调节螺丝(12),所述滑动轴(8)固定设置在探针(6)一侧,所述滑动轴承(9)设置在滑动轴(8)上,所述固定块(10)设置在滑动轴承(9)两侧,所述压缩弹簧(11)设置在滑动轴承(9)上方,所述调节螺丝(12)底端穿过压缩弹簧(11)与滑动轴承(9)顶端接触。
3.根据权利要求1所述的一种多功能半导体电学性质快速测试装置,其特征在于:所述测试探针(6)、帕尔贴片(5)分别连接PCB板(13),且测试探针(6)分别并联连接设置在测试盒底座(2)上的电压表(14)和电流表(15)。
4.根据权利要求1所述的一种多功能半导体电学性质快速测试装置,其特征在于:所述测试盒上盖(3)内侧设有弹性橡胶柱(16),且所述测试盒上盖(3)采用透明玻璃(17)。
5.根据权利要求1所述的一种多功能半导体电学性质快速测试装置,其特征在于:所述卡槽(4)设置2-5个。
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