[实用新型]一种用于半导体光电及光催化性能测试的装置

权利要求书

1.一种用于半导体光电及光催化性能测试的装置，其特征在于：包括两个完全对称的对口瓶身、两个漏斗瓶身以及一个参比电极；两所述对口瓶身的下部通过一密封法兰相连通；每所述漏斗瓶身均通过一连接软管与一所述对口瓶身的下部相连通；

两所述对口瓶身的上部均设置有一第一真空阀以及一第二真空阀；两所述对口瓶身的中部均设置有一工作电极，且在测试时，测试样品置于所述工作电极内；两所述对口瓶身的中部在背对所述工作电极的一侧均设置有一石英玻璃窗，且除所述石英玻璃窗外，两所述对口瓶身的外表面均通过一锡箔纸密封严实；任一所述对口瓶身上设置有一参比电极密封套，所述参比电极插设于所述参比电极密封套内，且使参比电极的末端伸入所述对口瓶身的内部；两所述对口瓶身的外表面均缠绕有一加热带。

2.如权利要求1所述的一种用于半导体光电及光催化性能测试的装置，其特征在于：还包括一离子交换膜，两所述对口瓶身的下部均设置有一对接端口，两所述对接端口通过所述密封法兰相连接，且在两所述对接端口之间设置有一离子交换膜套，所述离子交换膜设置在所述离子交换膜套内。

3.如权利要求1所述的一种用于半导体光电及光催化性能测试的装置，其特征在于：还包括一温控器，所述加热带上自带有电热偶，且所述温控器与所述加热带电连接。

4.如权利要求1所述的一种用于半导体光电及光催化性能测试的装置，其特征在于：每所述工作电极均包括一旋盖、一铜片以及一导线，每所述对口瓶身的中部均设置有一测试端口；所述旋盖与所述测试端口螺纹连接；所述铜片置于所述旋盖的内侧，且所述导线与该铜片相连接；在测试时，测试样品放置在所述铜片的前端。

5.如权利要求1所述的一种用于半导体光电及光催化性能测试的装置，其特征在于：两所述对口瓶身的中部在背对所述工作电极的一侧均设置一内凹缺口，所述石英玻璃窗设置在所述内凹缺口的壁面上，且使所述石英玻璃窗与位于工作电极一侧的对口瓶身的瓶壁之间的距离为1.5cm。

6.如权利要求1所述的一种用于半导体光电及光催化性能测试的装置，其特征在于：两所述对口瓶身的高度均为40cm，两所述对口瓶身的厚度均为1cm。

7.如权利要求1所述的一种用于半导体光电及光催化性能测试的装置，其特征在于：所述第二真空阀位于所述第一真空阀的上方，且所述第一真空阀与第二真空阀之间的间距为1cm。