[实用新型]半导体晶圆清洗设备有效
申请号: | 201720360908.2 | 申请日: | 2017-04-07 |
公开(公告)号: | CN206727061U | 公开(公告)日: | 2017-12-08 |
发明(设计)人: | 冯伟 | 申请(专利权)人: | 北京华通芯电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)11447 | 代理人: | 陈庆超,桑传标 |
地址: | 100097 北京市海淀区丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 清洗 设备 | ||
1.一种半导体晶圆清洗设备,其特征在于,该半导体晶圆清洗设备包括用于存放晶圆的盒站单元(1)、用于清洗从所述盒站单元(1)取出的晶圆的清洗单元(2)以及能够旋转且用于在所述盒站单元(1)和所述清洗单元(2)之间传送晶圆的传送机器人(3),所述盒站单元(1)和所述清洗单元(2)围绕所述传送机器人(3)布置。
2.根据权利要求1所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,所述半导体晶圆清洗设备包括用于对中从所述盒站单元(1)中取出的晶圆的对中单元(4),所述盒站单元(1)为两个且分别位于所述对中单元(4)的上方两侧。
3.根据权利要求2所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,两个所述盒站单元(1)相对于所述对中单元(4)和所述传送机器人(3)的中心延伸线相互对称布置。
4.根据权利要求2所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,所述清洗单元(2)为两个且分别对称布置在所述传送机器人(3)的两侧。
5.根据权利要求4所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,两个所述盒站单元(1)和两个所述清洗单元(2)位于同一平面且呈梯形布置,两个所述盒站单元(1)位于上底边的两个顶点位置,两个所述清洗单元(2)位于下底边的两个顶点位置。
6.根据权利要求5所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,两个所述盒站单元(1)和两个所述清洗单元(2)呈等腰梯形布置。
7.根据权利要求6所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,所述对中单元(4)位于所述上底边的中心位置,所述传送机器人(3)位于所述下底边的中心位置。
8.根据权利要求1-7中任一项所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,以所述传送机器人(3)的旋转轴为基准,所述传送机器人(3)分别与所述盒站单元(1)和所述清洗单元(2)之间的间距相等。
9.根据权利要求1-7中任一项所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,以所述盒站单元(1)和所述清洗单元(2)为一组清洗模块,在竖直方向上间隔布置有两组所述清洗模块,且两组所述清洗模块均通过所述传送机器人(3)传送晶圆。
10.根据权利要求1所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,所述清洗单元(2)包括用于定位晶圆并带动晶圆作离心旋转的支撑台(5)以及用于向晶圆针状喷射清洗液的喷射装置(6)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造