[实用新型]半导体晶圆清洗设备有效

专利信息
申请号: 201720360908.2 申请日: 2017-04-07
公开(公告)号: CN206727061U 公开(公告)日: 2017-12-08
发明(设计)人: 冯伟 申请(专利权)人: 北京华通芯电科技有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)11447 代理人: 陈庆超,桑传标
地址: 100097 北京市海淀区丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 半导体 清洗 设备
【权利要求书】:

1.一种半导体晶圆清洗设备,其特征在于,该半导体晶圆清洗设备包括用于存放晶圆的盒站单元(1)、用于清洗从所述盒站单元(1)取出的晶圆的清洗单元(2)以及能够旋转且用于在所述盒站单元(1)和所述清洗单元(2)之间传送晶圆的传送机器人(3),所述盒站单元(1)和所述清洗单元(2)围绕所述传送机器人(3)布置。

2.根据权利要求1所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,所述半导体晶圆清洗设备包括用于对中从所述盒站单元(1)中取出的晶圆的对中单元(4),所述盒站单元(1)为两个且分别位于所述对中单元(4)的上方两侧。

3.根据权利要求2所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,两个所述盒站单元(1)相对于所述对中单元(4)和所述传送机器人(3)的中心延伸线相互对称布置。

4.根据权利要求2所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,所述清洗单元(2)为两个且分别对称布置在所述传送机器人(3)的两侧。

5.根据权利要求4所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,两个所述盒站单元(1)和两个所述清洗单元(2)位于同一平面且呈梯形布置,两个所述盒站单元(1)位于上底边的两个顶点位置,两个所述清洗单元(2)位于下底边的两个顶点位置。

6.根据权利要求5所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,两个所述盒站单元(1)和两个所述清洗单元(2)呈等腰梯形布置。

7.根据权利要求6所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,所述对中单元(4)位于所述上底边的中心位置,所述传送机器人(3)位于所述下底边的中心位置。

8.根据权利要求1-7中任一项所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,以所述传送机器人(3)的旋转轴为基准,所述传送机器人(3)分别与所述盒站单元(1)和所述清洗单元(2)之间的间距相等。

9.根据权利要求1-7中任一项所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,以所述盒站单元(1)和所述清洗单元(2)为一组清洗模块,在竖直方向上间隔布置有两组所述清洗模块,且两组所述清洗模块均通过所述传送机器人(3)传送晶圆。

10.根据权利要求1所述的半导体晶圆清洗设备,其特征在于,所述清洗单元(2)包括用于定位晶圆并带动晶圆作离心旋转的支撑台(5)以及用于向晶圆针状喷射清洗液的喷射装置(6)。

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