[实用新型]一种铁氧体检测装置有效
申请号: | 201720352445.5 | 申请日: | 2017-04-06 |
公开(公告)号: | CN206671520U | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
发明(设计)人: | 王义方 | 申请(专利权)人: | 苏州工业园区凯艺精密科技有限公司 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12 |
代理公司: | 苏州国诚专利代理有限公司32293 | 代理人: | 刘彦 |
地址: | 215127 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 铁氧体 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及无线通讯设备的技术领域,具体为一种铁氧体的检测装置。
背景技术
在现有的无线通信系统中,发射机是有一个重要的组成部分,由功率放大器(PA)、耦合器、环形器/隔离器、连接器、双工器及天线等部分组成,其中耦合器用于链路的相关监测功能,环形器或隔离器(环形器与功率吸收负载组合构成隔离器)用于保护功放管,连接器将输出信号传输到双工器。在无线领域都是类似的设计,但是随着无线通信发展,对小型化的要求越来越高。
微波铁氧体又称旋磁铁氧体,在高频磁场作用下,平面偏振的电磁波在铁氧体中按照一定方向传播时,偏振面会不断绕传播方向旋转的铁氧体材料。具有铁磁共振线宽小、自旋波共振线宽大、在低频段,饱和磁化强度低和磁晶各向异性常数小、介质损耗低、稳定性高等性能。采用电子陶瓷工艺,热压烧结或氧气氛中烧结制造而成,主要用于制作毫米波铁氧体器件。
在现有技术中,环形器/隔离器均需要用到铁氧体,铁氧体目前的是粉料混合、压铸、烧结、机加工、刷银层制作而成。所以行业中一般都是采用测量外形尺寸、平面度、粗糙度、密度、介电等参数间接的评估铁氧体的旋磁性能,这种方法不能精准的评估铁氧体的性能,故环形器/隔离器的生产厂家还需对铁氧体进行进一步检测,从而评估铁氧体的性能。
现有隔离器的生产工厂收到铁氧体后,同一批次随机抽选10片,组装5个隔离器,测试隔离器的S参数,以此评估铁氧体的性能。此方法可以直接看到被检测铁氧体是否可以满足要求。但是由于隔离器工艺比较复杂,有十几道工序,一般要花费1-2小时才能得到结论。并且结论也比较容易受到其他因素的影响,比如5个产品磁铁在相应腔体的位置不一致,电路之间有偏差等都会对检测结果造成影响。
为此环形器/隔离器的生产厂家急需一种可以快速检测铁氧体性能的装置,从而使得铁氧体的检测快速可靠稳定。
发明内容
针对上述问题,本实用新型提供了一种铁氧体的检测装置,其能够对铁氧体进行快速检测,且确保整个装置的其余部件的位置稳定,使得检测可靠稳定。
一种铁氧体的检测装置,其特征在于:其包括基座,所述基座的中心位置设置有内凹槽,所述基座的上表面还设置有两个信号线接入端、一个负载,下壳体位于所述内凹槽内,所述下壳体的外环面对应于所述基座的表面环布有N个下凹的定位孔,其中N≥2,所述下壳体的中心位置设置有中心内凹孔,所述中心内凹孔内定位装有下检测组件,所述下检测组件的外环部侧凸有三个引脚,三个引脚分别外接对应连接其对应位置的两个信号线接入端、一个负载,确保每个引脚对应有唯一的外接部分,其还包括有上壳体,所述上壳体的外环面的下部下凸有N个下凸爪,检测状态下下凸爪的下凸部分一一对应嵌装于所述定位孔内,所述上壳体的中心下端设置有内腔,所述内腔有定位装有上检测组件,所述上检测组件的下端面和所述下检测组件的上端面间用于夹紧对应的待检测铁氧体。
其进一步特征在于:
所述下壳体的上端面的外围环布有至少两个螺纹孔,所述上壳体的环面对应于所述下壳体的螺纹孔的位置设置有对应的贯穿孔,定位螺丝对应贯穿所述贯穿孔后紧固于对应的螺纹孔,确保上检测组件的下端面紧贴待检测铁氧体的上端面、所述下检测组件的上端面紧贴待检测铁氧体的下端面;
所述贯穿孔上部的对应位置设置有避让孔槽,其确保定位螺丝的长度可以相对较小,确保操作快速进行;
所述上壳体的内腔上壁和所述上检测组件的上端面间布置有弹簧结构,所述弹簧结构的下端面和所述上检测组件的上端面连接成为整体组件,所述弹簧结构的上端面连接所述上壳体的内腔上壁,其使得弹簧结构可整体带动所述上检测组件垂直向下压,确保上检测组件的下端面和所述下检测组件的上端面间夹紧对应的待检测铁氧体;
所述下检测组件的整体厚度小于中心内凹孔的厚度,待检测铁氧体内嵌于所述中心内凹孔的顶层位置布置;
所述下壳体的上端部上凸于所述基座的上端面,所述下壳体的上端部外凸于所述基座的部分环布有三条导向槽,三个引脚分别贯穿对应的导向槽后外接于对应位置的两个信号线接入端、一个负载;
所述下检测组件自上而下依次层叠布置有电路部分、第一铁氧体、第一导磁片、第一磁铁,所述电路部分设置有三个所述的引脚;
所述上检测组件自上而下依次层叠布置有第二磁铁、第二导磁片;
所述第二磁铁、第一磁铁为相同磁铁,所述第一导磁片、第二导磁片为相同导磁片。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州工业园区凯艺精密科技有限公司,未经苏州工业园区凯艺精密科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720352445.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种磁共振系统的磁场测量定位装置
- 下一篇:简易的旋磁测验器