[实用新型]一种针对大口径深矢高的光学自由曲面检测装置有效

专利信息
申请号: 201720339559.6 申请日: 2017-04-01
公开(公告)号: CN206627077U 公开(公告)日: 2017-11-10
发明(设计)人: 徐宁;温春超;付跃刚;刘智颖 申请(专利权)人: 长春理工大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京中理通专利代理事务所(普通合伙)11633 代理人: 刘慧宇
地址: 130022 吉林*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 针对 口径 深矢高 光学 自由 曲面 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种针对大口径深矢高的光学自由曲面检测的装置,该装置由ZYGO干涉仪(1)、标准平面参考镜(2)、光阑(3)、第一分光镜(4)、第二分光镜(5)、第一零位补偿透镜(6)、第二零位补偿透镜(8)、偏振片(9)、液晶空间光调制器(10)和PC(11)组成;其特征是,

ZYGO干涉仪(1)、标准平面参考镜(2)、光阑(3)、第一分光镜(4)和第二分光镜(5)依次同轴放置,第一分光镜(4)和第二分光镜(5)倾斜45°;第一零位补偿透镜(6)和被测自由曲面(7)依次同轴放置在第一分光镜(4)的反射光路上;第二零位补偿透镜(8)、偏振片(9)和液晶空间光调制器(10)依次同轴设置在第二分光镜(5)的反射光路上;ZYGO干涉仪(1)与PC(11)相连;PC(11)与液晶空间光调制器(10)相连。

2.根据权利要求1所述的一种针对大口径深矢高的光学自由曲面检测的装置,其特征在于,ZYGO干涉仪(1)发出的激光入射至标准平面参考镜(2)上,激光经所述标准平面参考镜(2)透射后经过光阑(3),然后入射至第一分光镜(4)上,激光经所述第一分光镜(4)分成一束透射光和一束反射光;

经过第一分光镜(4)的反射光入射至第一零位补偿透镜(6)上,光经第一零位补偿透镜(6)透射后入射至被测自由曲面(7)上,光经被测自由曲面(7)发射产生测试光,所述测试光经第一零位补偿透镜(6)反射后返回至第一分光镜(4)上;

经过分光镜(4)的透射光入射至第二分光镜(5),经第二分光镜(5)反射后入射至第二零位补偿透镜(8)上,经第二零位补偿透镜(8)入射至偏振片(9)上,光经偏振片(9)透射后入射至液晶空间光调制器(10)上,光经过液晶空间光调制器(10)相位调制并反射后获得参考光,所述参考光经过偏振片(9)、零位补偿透镜(8)和第二分光镜(5)反射后返回至第一分光镜(4) 上;

参考光和测试光干涉形成干涉光,所述干涉光经过光阑(3)和标准平面参考镜(2)透射后,入射到ZYGO干涉仪(1)的成像系统。

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