[实用新型]一种大功率槽栅门级T‑MOSFET结构有效

专利信息
申请号: 201720294819.2 申请日: 2017-03-23
公开(公告)号: CN206961833U 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 张学强;张振中;和巍巍;汪之涵 申请(专利权)人: 深圳基本半导体有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/78;H01L29/423;H01L21/336
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司44223 代理人: 江耀纯
地址: 518000 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 大功率 栅门 mosfet 结构
【权利要求书】:

1.一种大功率槽栅门级T-MOSFET结构,包括P-阱,槽栅门级,N+源区,源级,绝缘层,N-漂移区,漏级,其特征在于,所述T-MOSFET中槽栅门级的转角区域为子阶梯构成的阶梯状结构。

2.如权利要求1所述的大功率槽栅门级T-MOSFET结构,其特征在于,所述阶梯状结构至少包括2个子阶梯。

3.如权利要求1所述的大功率槽栅门级T-MOSFET结构,其特征在于,每个子阶梯的转角曲率相同或不同。

4.如权利要求1所述的大功率槽栅门级T-MOSFET结构,其特征在于,所述子阶梯中位于槽栅门级最深处的子阶梯弧度曲率最小。

5.如权利要求1所述的大功率槽栅门级T-MOSFET结构,其特征在于,所述子阶梯的外轮廓形状相同或不同。

6.如权利要求1所述的大功率槽栅门级T-MOSFET结构,其特征在于,所述子阶梯的外轮廓为弧形、曲线形、折线形或这三类形状的任意组合。

7.如权利要求1所述的大功率槽栅门级T-MOSFET结构,其特征在于,所述子阶梯的数量k需满足[0.5μm*(k-1)]<Wmin;所述Wmin为所述槽栅门级的总深度Wy和总宽度Wx的中的较小值。

8.如权利要求7所述的大功率槽栅门级T-MOSFET结构,其特征在于,所述子阶梯为深度和宽度相同的单一子阶梯。

9.如权利要求7所述的大功率槽栅门级T-MOSFET结构,其特征在于,每个子阶梯的深度和/或宽度不同,深度不超过Wy/k,宽度不超过Wx/k。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳基本半导体有限公司,未经深圳基本半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720294819.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top