[实用新型]检测镜头用光箱有效
申请号: | 201720252750.7 | 申请日: | 2017-03-15 |
公开(公告)号: | CN206638404U | 公开(公告)日: | 2017-11-14 |
发明(设计)人: | 梁振升 | 申请(专利权)人: | 仪锐科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G03B43/00 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司11100 | 代理人: | 朱丽华,程凤儒 |
地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 镜头 用光 | ||
技术领域
本实用新型关于一种检测镜头用光箱,尤其关于一种检测镜头用光箱,其不需使用影像软件来补正影像感测器所撷取的感应器影像,亦能够修正因影像变形(distortion)而误判边缘的频率的问题。
背景技术
光学解晰调变转换函数(modulation transfer function,MTF)已为现今市面上评估一个光学元件或光学系统的光学品质的一个常用指标,举例来说,通过检视镜头在某一区域所具有的光学解晰调变函数于各空间频率的反应(即为光学空间频率反应SFR),便可得知该镜头在该区域对于各空间频率(线密度)的解析度。
请参阅图1,图1为说明了运用测试图样100进行SFR量测的流程图。如图1所示,测试图样100具有一黑白边缘,而SFR的量测包含下列步骤:首先,经由待测影像模组取得测试图样100的影像;接着系统会对影像加以分析,并找出影像中的亮度分布(如图1所示的edge spread function),并且将其进行偏微分,即由边缘分布函数(Edge Spread Function)转换为线分布函数(line spread function),最后再对线分布函数进行快速傅利叶转换(FFT),以产生前述的光学解析空间频率反应(即为图1中光学解晰调变转换函数对于空间频率的图形)。空间频率的单位为:线对/公厘(lp/mm)。
图2显示已知用以检测镜头的光箱的示意图。请参照图2,光箱10包含一光源113、一影像感测器114、一主机115、一测试图样100及一镜头117。测试图样100包含至少一图样101。影像感测器114包含设于支架上的影像感测单元111、112。为检测镜头117的不同特性,可以使用不同的测试图样100。进行检测时,来自光源113的光线照射至测试图样100后,穿透过镜头117再照射至影像感测器114。影像感测器114撷取对应测试图样100的一图案影像并传送至主机115,再利用主机115对该被撷取到的图案影像进行分析,求得例如解析度、光电转换函數(OECF;Opto-electronic conversion function)、灰阶度、光学调制函数(modulation transfer function,MTF)、或光学空间频率反应(spatial frequency responses)等等资讯。
现行的车用镜头为取得较佳的影像,因而容易形成光学变形的影像。图3显示已知测试图样、发生光学变形现象时的感应器影像;以及软件补正后的影像的示意图。如图3所示,当待测镜头117有所谓的光学变形(Optical Distortion)的问题时,测试图样100的图样101,经过待测镜头117后,会形成具有光学变形的影像,使影像感测器114撷取得到光学变形的感应器影像102。然而,当因为光学变形而误判边缘的频率时,其所对应的MTF势必也会错误。故主机115再利用影像处理软件,对光学变形的感应器影像102进行软件补正计算,而得到软件补正后的影像103。随后,再利用主机115对该被撷取到的图案影像进行分析,求得例如解析度、光电转换函數、灰阶度、光学调制函数、或光学空间频率反应等等资讯。
然而,这样的操作,主机115需要安装有影像处理软件,且进行影像的计算对于硬件效能的需求较大,造成光箱10整体的成本提高。而且,较旧机型的光箱10或主机115,若不进行硬件或软件的升级,则将无法用于检测具有光学变形的镜头。
实用新型内容
依据本实用新型的一实施例,提供一种检测镜头用光箱,用以检测具有光学变形特性的待测镜头。
一种检测镜头用光箱,用以检测具有光学变形特性的一待测镜头,其包括:
一光源,用以形成一光线适于照射该待测镜头;
一影像感测器;
一测试图样,其中该光源的光线穿透过该测试图样及该待测镜头,并照射至该影像感测器,以撷取一感应器影像;以及
一主机,接收该感应器影像,以分析该感应器影像,
其中,该测试图样包含一变形图样,该变形图样具有对应该待测镜头的光学变形的图样。
于一实施例中,变形图样的变形程度对应于待测镜头的光学变形的程度。
于一实施例中,变形图样具有反向于待测镜头的光学变形所产生的光学变形量的线条。
于一实施例中,光学变形量是利用:让光线通过一原始图样后,得到一具有正向光学变形的图样,再比较该具有正向光学变形的图样以及该原始图样后,求得差异而得。
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