[实用新型]低温电学测量插拔型样品托有效
| 申请号： | 201720249559.7 | 申请日： | 2017-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN206657033U | 公开（公告）日： | 2017-11-21 |
| 发明（设计）人： | 丛君状;申世鹏;邢健 | 申请（专利权）人： | 多场低温科技（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京易正达专利代理有限公司11518 | 代理人： | 郭士磊 |
| 地址： | 100190 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 低温 电学 测量 插拔型 样品 | ||
1.一种低温电学测量插拔型样品托，包括电学样品托板，所述电学样品托板上设有样品安装区，其特征在于：所述样品安装区内设有贯穿所述电学样品托板的非金属导热体，所述电学样品托板的底部设有与所述非金属导热体相接触的导热托板，所述电学样品托板与导热托板之间通过可插拔结构插拔连接。
2.根据权利要求1所述的低温电学测量插拔型样品托，其特征在于：所述导热托板上设有至少一个与所述非金属导热体相对应的镂空结构，所述镂空结构内设有与所述非金属导热体相接触且贯穿所述导热托板的导热凸起。
3.根据权利要求2所述的低温电学测量插拔型样品托，其特征在于：所述导热凸起与非金属导热体为一体结构。
4.根据权利要求2所述的低温电学测量插拔型样品托，其特征在于：所述导热托板的底部设有与所述导热凸起相接触的金属底板。
5.根据权利要求4所述的低温电学测量插拔型样品托，其特征在于：所述金属底板与导热凸起为一体结构。
6.根据权利要求4所述的低温电学测量插拔型样品托，其特征在于：所述导热托板与金属底板之间通过螺钉或低温胶固定连接。
7.根据权利要求1所述的低温电学测量插拔型样品托，其特征在于：所述电学样品托板上设有第一电学接头。
8.根据权利要求7所述的低温电学测量插拔型样品托，其特征在于：所述导热托板上设有与所述第一电学接头插拔连接的第二电学接头。
9.根据权利要求1所述的低温电学测量插拔型样品托，其特征在于：所述样品安装区上设有电学引脚。
10.根据权利要求1-9中任意一项所述的低温电学测量插拔型样品托，其特征在于：所述非金属导热体为蓝宝石体、刚玉体或云母体。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于多场低温科技（北京）有限公司，未经多场低温科技（北京）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720249559.7/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
