[实用新型]干涉仪测量系统定位测头有效

专利信息
申请号: 201720248088.8 申请日: 2017-03-14
公开(公告)号: CN206618382U 公开(公告)日: 2017-11-07
发明(设计)人: 王文革;邹惠莹;王杰;李超;陆巍群;魏佳勇 申请(专利权)人: 长春继珩精密光学技术有限公司
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02;G01B11/14
代理公司: 长春市吉利专利事务所22206 代理人: 李晓莉
地址: 130000 吉林省长*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 干涉仪 测量 系统 定位
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种干涉仪测量系统定位测头,属于光学加工技术领域。

背景技术

现有的干涉仪测量系统间距无法达到预期测量效果和精度,达到测量精度的测量系统成本过高。以带有补偿器的非球面检测为例,搭建光路时需要确定补偿器镜面和非球面的顶点的准确距离,目前现有的技术是通过激光跟踪仪来搭建三维虚拟模型,使用跟踪球头来定位补偿器镜面和非球面顶点的空间坐标,来计算两点之间的距离,这种方法不仅成本高昂,而且使用方法复杂,测量过程繁复。

实用新型内容

本实用新型为了解决现有干涉仪测量系统测量复杂且成本高的问题,提供一种干涉仪测量系统定位测头。

本实用新型的技术方案是:

干涉仪测量系统定位测头,其特征是,其包括双触头测量表、表架和六维调整架,表架上表面设置凹槽,双触头测量表设置在表架的凹槽内,表架的下端与六维调整架螺纹连接,六维调整架可调整表架的精确位置。

六维调整架与干涉仪导轨上的光栅尺载物台螺纹连接。

本实用新型中的干涉仪测量系统定位测头,结构简单,制作成本低廉,并且能够保证干涉仪测量定位系统的精度需求,最主要的是可以保证在干涉仪测量定位中的广泛适应性。

附图说明

图1是本实用新型干涉仪测量系统定位测头的侧视图;

图中:1、双触头测量表;2、表架;3、六维调整架;4、光栅尺载物台。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步的描述。

如图1所示,干涉仪测量系统定位测头,包括双触头测量表1、表架2和六维调整架3。表架2上表面设置凹槽,双触头测量表1设置在表架2的凹槽内,表架2的下端设有螺纹,其与六维调整架3螺纹连接,六维调整架3可调整表架的精确位置。应用时,六维调整架3与干涉仪导轨上的光栅尺载物台4以螺纹连接,保证位置不变。

所述的双触头测量表1具有系统定位所需要的精度。

表架2为304不锈钢材质。

以有补偿器的非球面检测为例,将本实用新型的结构装在卧式干涉仪的导轨上,导轨本身设有测量用的光栅尺,当光栅尺载物台移动到补偿镜镜面附近时,双触头测量表的一端接触补偿镜镜面,记下测量表上的数值,在将光栅尺载物台移动到非球面的顶点附近,以双触头测量表的另一端接触非球面顶点,通过光栅尺读数以及双触头测量表读数构成闭合的尺寸链,从而得到补偿器镜面距离非球面的顶点之间的距离。

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