[实用新型]粉体样品杂质分析仪有效
申请号: | 201720247206.3 | 申请日: | 2017-03-14 |
公开(公告)号: | CN206638603U | 公开(公告)日: | 2017-11-14 |
发明(设计)人: | 黄廷磊;张姿 | 申请(专利权)人: | 黄廷磊;张姿 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N1/28 |
代理公司: | 桂林市持衡专利商标事务所有限公司45107 | 代理人: | 黄玮 |
地址: | 541004 广西壮族自治*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 样品 杂质 分析 | ||
1.粉体样品杂质分析仪,其特征在于:包括对应于铺料平台(1)设置的进出料装置和平铺清扫装置,其中:
所述进出料装置包括设于铺料平台(1)一端上方的漏斗(2)和与漏斗(2)连接的间歇下料机构(3),所述间歇下料机构(3)的出口下方设有将颗粒状粉体向铺料平台(1)下料的出料斜斗(4);
所述平铺清扫装置包括将下料的颗粒状粉体从下料端向前摊平而后将摊平的颗粒状粉体向后回收的平铺刮板(5)和清扫刮板(6),所述平铺刮板(5)和清扫刮板(6)前、后竖直设置并通过弹性元件(7)吊装于铺料平台(1)上方悬伸的移动杆(8)上,所述移动杆(8)安装于螺母座(9)上,所述螺母座(9)旋合于铺料平台(1)外设置的丝杆(10)上,所述平铺刮板(5)和清扫刮板(6)的前、后行程大于铺料平台(1)的前、后端,于前、后最大行程处所述平铺刮板(5)和清扫刮板(6)的底端低于铺料平台(1);
所述铺料平台(1)下料端的后下方设有粉体收集容器(23);
所述铺料平台(1)上方设有向下对摊平的颗粒状粉体拍照的CCD相机(11)或CMOS相机,所述CCD相机(11)或CMOS相机由多脚相机架(12)支撑安装并通过数据传输线(13)连接显示处理终端(14),所述显示处理终端(14)实时对CCD相机(11)或CMOS相机传送来的图像数据进行图像处理,利用图像识别技术识别并标注出图像中杂质的位置,同时统计杂质颗粒的数量,并将处理好的图像和统计结果显示在显示处理终端(14)的显示器上。
2.根据权利要求1所述的粉体样品杂质分析仪,其特征在于:所述间歇下料机构(3)包括竖状柱形筒(15)和横置于柱形筒(15)内的柱形转门(16),所述柱形转门(16)的上部为等腰三角形体,柱形转门(16)的直径匹配柱形筒(15)的前、后内壁宽度,柱形转门(16)与柱形筒(15)外的转盘(17)同轴安装,所述转盘(17)的顶部与柱形筒(15)之间设有回位弹簧(18),于转盘(17)的回位位置,柱形转门(16)的上部等腰三角形体居中位于柱形筒(15)内;柱形筒(15)外设有转动转盘(17)即转动柱形转门(16)进行下料的控制机构,于柱形转门(16)的下料位置,柱形转门(16)的上部偏转至柱形筒(15)的前壁或后壁处。
3.根据权利要求2所述的粉体样品杂质分析仪,其特征在于:所述控制机构包括设于转盘(17)底部的挡块(19)和可前、后推动挡块(19)而转动柱形转门(16)的推块(20),所述推块(20)设于推杆(21)上且位于平铺刮板(5)和清扫刮板(6)前方,所述推杆(21)设于移动杆(8)或螺母座(9)上。
4.根据权利要求1~3中任意一项所述的粉体样品杂质分析仪,其特征在于:所述平铺刮板(5)的底部为光滑的斜面;所述清扫刮板(6)的底部为粗糙的斜面。
5.根据权利要求1~3中任意一项所述的粉体样品杂质分析仪,其特征在于:所述多脚相机架(12)的各支脚具有可调节CCD相机(11)或CMOS相机高度和水平位置的伸缩结构。
6.根据权利要求1~3中任意一项所述的粉体样品杂质分析仪,其特征在于:所述CCD相机(11)或CMOS相机的镜头上安装有补光光源(22)。
7.根据权利要求1~3中任意一项所述的粉体样品杂质分析仪,其特征在于:所述显示处理终端(14)采用个人电脑,其图像识别技术为PC端软件。
8.根据权利要求1~3中任意一项所述的粉体样品杂质分析仪,其特征在于:所述显示处理终端(14)采用平板电脑或手机,其图像识别技术为APP第三方应用程序。
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