[实用新型]一种用于老化测试的电路

权利要求书

1.一种用于老化测试的电路，其特征在于：包括：

第一充放电控制电路，用于实现充电操作，所述第一充放电控制电路包括第一感应元器件、第一切换元器件以及第一开关元器件，所述第一感应元器件与第一切换元器件耦接，所述第一切换元器件与第一开关元器件耦接；

第二充放电控制电路，用于实现放电操作，所述第二充放电控制电路包括第二感应元器件、第二切换元器件以及第二开关元器件，所述第二感应元器件与第二切换元器件耦接，所述第二切换元器件与第二开关元器件耦接；

MCU电路，用于向第一切换元器件或者第二切换元器件发送控制信号，所述MCU电路包括MCU芯片。

2.根据权利要求1所述的一种用于老化测试的电路，其特征在于：所述MCU芯片的第十五管脚与接线端DYZH1耦接，所述MCU芯片的第十四管脚与接线端FZZH1耦接。

3.根据权利要求2所述的一种用于老化测试的电路，其特征在于：所述第一感应元器件为第一光耦元器件，第一光耦元器件的第一管脚耦接有第一电源；所述第一光耦元器件的第二管脚与接线端DYZH1耦接；所述第一光耦元器件的第三管脚耦接有第二电源；所述第一光耦元器件的第四管脚与第一开关元器件耦接。

4.根据权利要求3所述的一种用于老化测试的电路，其特征在于：所述第一切换元器件为N沟道MOS管Q101，N沟道MOS管Q101的栅极与第一光耦元器件的第四管脚耦接，所述N沟道MOS管Q101的栅极通过与电阻R103耦接后接地；所述N沟道MOS管Q101的源极接地；所述N沟道MOS管Q101的漏极与第一开关元器件耦接。

5.根据权利要求4所述的一种用于老化测试的电路，其特征在于：所述第一开关元器件为第一继电器，第一继电器的第一管脚与N沟道MOS管Q101的漏极耦接，所述第一继电器的第二管脚耦接有第二电源，所述第一继电器的第三管脚与接线端TYN1+耦接，所述第一继电器的第四管脚与接线端TYN1-耦接，所述第一继电器的第五管脚与接线端POWER1+耦接，所述第一继电器的第六管脚与接线端POWER1-耦接，所述第一继电器的第七管脚与接线端BAT1+耦接，所述第一继电器的第八管脚与接线端BAT1-耦接。

6.根据权利要求2所述的一种用于老化测试的电路，其特征在于：所述第二感应元器件为第二光耦元器件，第二光耦元器件的第五管脚耦接有第一电源；所述第二光耦元器件的第六管脚与接线端DYZH1耦接；所述第二光耦元器件的第七管脚耦接有第二电源；所述第二光耦元器件的第八管脚与第二开关元器件耦接。

7.根据权利要求6所述的一种用于老化测试的电路，其特征在于：所述第二切换元器件为N沟道MOS管Q102，N沟道MOS管Q102的栅极与电阻R105的另一端耦接，所述N沟道MOS管Q102的栅极通过与电阻R106耦接后接地；所述N沟道MOS管Q102的源极接地；所述N沟道MOS管Q102的漏极与第二开关元器件耦接。

8.根据权利要求7所述的一种用于老化测试的电路，其特征在于：所述第二开关元器件为第二继电器，第二继电器的第一管脚与N沟道MOS管Q102的漏极耦接，所述第二继电器的第二管脚耦接有第二电源，所述第二继电器的第三管脚与接线端BAT1+耦接，所述第二继电器的第四管脚与接线端BAT1-耦接，所述第二继电器的第五管脚与接线端FD-CH1+耦接，所述第二继电器的第六管脚与接线端FD-CH1-耦接，所述第二继电器的第七管脚与接线端LOAD1+耦接，所述第二继电器的第八管脚与接线端LOAD1-耦接。