[实用新型]一种测量样品中微量元素荧光吸收谱的系统有效
| 申请号: | 201720177752.4 | 申请日: | 2017-02-27 |
| 公开(公告)号: | CN206531787U | 公开(公告)日: | 2017-09-29 |
| 发明(设计)人: | 郑雷;赵屹东;唐坤;马陈燕;刘树虎;李华鹏;赵晓亮;赵亚帅;李凡 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙)11200 | 代理人: | 司立彬 |
| 地址: | 100049 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 测量 样品 微量元素 荧光 吸收 系统 | ||
1.一种测量样品中微量元素荧光吸收谱的系统,其特征在于,包括一样品,衍射单元以及探测器;其中,根据布拉格定律、样品中待测微量元素的荧光波长λ和选取的衍射单元确定出该样品与衍射单元、探测器之间的位置;该衍射单元用于将该样品被激发出的满足布拉格定律的荧光衍射到该探测器。
2.如权利要求1所述的测量样品中微量元素荧光吸收谱的系统,其特征在于,该样品为含硅或锆元素的样品,待测微量元素为磷;该样品、衍射单元以及探测器探头处于真空环境。
3.如权利要求2所述的测量样品中微量元素荧光吸收谱的系统,其特征在于,该衍射单元为一Johansson型晶体;该样品、Johansson型晶体和探测器探头位于同一圆上,该圆半径为Johansson型晶体表面的曲率半径,样品到Johansson型晶体以及Johansson型晶体到探测器的距离相同。
4.如权利要求3所述的测量样品中微量元素荧光吸收谱的系统,其特征在于,该衍射单元为一Johansson型晶体;该样品、Johansson型晶体和探测器探头位于同一圆上,该圆半径为Johansson型晶体表面的曲率半径,样品到Johansson型晶体以及Johansson型晶体到探测器的距离相同。
5.如权利要求3所述的测量样品中微量元素荧光吸收谱的系统,其特征在于,依据布拉格定律2dsinθ=mλ确定出该样品与衍射单元、探测器之间的位置;其中,d为Johansson型晶体的晶格间距,θ为X射线与Johansson型晶体表面之间的夹角,m为衍射级次。
6.如权利要求3或4或5所述的测量样品中微量元素荧光吸收谱的系统,其特征在于,该衍射单元为一曲率半径为100mm的Johansson型Ge(111)晶体。
7.如权利要求1至5任一所述的测量样品中微量元素荧光吸收谱的系统,其特征在于,还包括一毛细管聚焦装置,该毛细管聚焦装置用于将X射线聚焦垂直入射到该样品上。
8.如权利要求1至5任一所述的测量样品中微量元素荧光吸收谱的系统,其特征在于,该样品为土壤或用于吸附污水中磷的吸附剂。
9.如权利要求1至5任一所述的测量样品中微量元素荧光吸收谱的系统,其特征在于,通过一毛细管聚焦装置将X射线聚焦垂直入射到该样品上。
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