[实用新型]三相电路检测装置

权利要求书

1.一种三相电路检测装置，其特征在于，包括：主板(100)，所述主板(100)上设置有第一供电端口(102)、第二供电端口(104)、第一检测端口(106)、第二检测端口(108)和微处理器(110)；

所述第一供电端口(102)连接三相电源的零线(N)；

所述第二供电端口(104)连接所述三相电源的第一相线路(L1)；

所述第一检测端口(106)连接所述三相电源的第二相线路(L2)；

所述第二检测端口(108)连接所述三相电源的第三相线路(L3)；

所述微处理器(110)，被配置为将所述第二供电端口(104)接入的第一相线路(L1)、所述第一检测端口(106)接入的第二相线路(L2)和所述第二检测端口(108)接入的第三相线路(L3)作为被检测的三相电路的三条线路，并基于所述第一相线路(L1)、第二相线路(L2)和第三相线路(L3)的相位状态判断所述三相电路是否异常。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述主板(100)上还设置有用来实现强弱电转换的工频变压器(112)、弱电相位检测器件(114)；

所述工频变压器(112)的两个输入端(112A，112B)分别连接所述第一相线路(L1)和零线(N)；

所述弱电相位检测器件(114)的两个输入端(114A，114B)分别连接所述工频变压器(112)的两个输出端(112C，112D)，所述弱电相位检测器件(114)的输出端(114C)连接所述微处理器(110)的第一输入端(110A)。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述主板(100)上还设置有用来实现强弱电隔离的第一光耦(116)和用来实现强弱电隔离的第二光耦(118)；

所述第一光耦(116)的两个输入端(116A，116B)分别连接所述第二相线路(L2)和所述零线(N)，所述第一光耦(116)的第一输出端(116C)连接所述微处理器(110)的第二输入端(110B)，所述第一光耦(116)的第二输出端(116D)接地；

所述第二光耦(118)的两个输入端(118A，118B)分别连接所述第三相线路(L3)和所述零线(N)，所述第二光耦(118)的第一输出端(118C)连接所述微处理器(110)的第三输入端(110C)，所述第二光耦(118)的第二输出端(118D)接地。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，

所述微处理器(110)，被配置为在所述弱电相位检测器件(114)的输出端(114C)输出的信号的上升沿领先所述第一光耦(116)的第一输出端(116C)输出的信号的上升沿为信号周期的1/3，且所述第一光耦(116)的第一输出端(116C)输出的信号的上升沿领先所述第二光耦(118)的第一输出端(118C)输出的信号的上升沿为信号周期的1/3的情况下，判断所述三相电路正常，否则，判断所述三相电路中出现电路逆向的情况。

5.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，

所述微处理器(110)，被配置为在所述第一光耦(116)的第一输出端(116C)没有信号输出的情况下，判断第二相线路(L2)缺相；

或者，

所述微处理器(110)，被配置为在所述第二光耦(118)的第一输出端(118C)没有信号输出的情况下，判断第三相线路(L3)缺相；

或者，

在所述主板(100)不工作的情况下，则第一相线路(L1)缺相。

6.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，

所述弱电相位检测器件(114)为由三极管、二极管和电阻组成的半导体网络。

7.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，还包括：所述主板(100)上还设置有第一二极管(120)和第二二极管(122)；

所述第一二极管(120)跨接在所述第一光耦(116)的两个输入端(116A，116B)之间；

所述第二二极管(122)跨接在所述第二光耦(118)的两个输入端(118A，118B)之间。