[实用新型]保偏光纤延时环测试系统有效
申请号: | 201720171588.6 | 申请日: | 2017-02-24 |
公开(公告)号: | CN206496890U | 公开(公告)日: | 2017-09-15 |
发明(设计)人: | 李建光;肖浩;刘博阳;雷军;郝琰 | 申请(专利权)人: | 北京世维通光智能科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01M11/02 |
代理公司: | 北京邦信阳专利商标代理有限公司11012 | 代理人: | 刘金峰 |
地址: | 065201 河北省廊坊市*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 偏光 延时 测试 系统 | ||
1.一种保偏光纤延时环测试系统,其特征在于,包括:
敏感元件,包括光纤环以及分别设置于所述光纤环两端的光纤波片和反射镜,其中所述光纤环内有通电导体穿过;
偏振光生成元件,发出两束偏振方向垂直的线偏振光,两束线偏振光经待测保偏光纤延时环、所述光纤波片、所述光纤环传输,由所述反射镜反射后返回,返回后的两束线偏振光发生干涉;
探测器,检测干涉光强,并得到与所述干涉光强对应的电信号;
信号处理单元,接收所述探测器发送的电信号,解析后得到测量电流值;
上位机,根据所述通电导体中的基准电流值以及所述测量电流值得到所述待测保偏光纤延时环在所处环境下引入的测量误差。
2.根据权利要求1所述的保偏光纤延时环测试系统,其特征在于,所述偏振光生成元件包括光源、耦合器和起偏器,其中:
所述光源发出的光经所述耦合器后进入所述起偏器输入端,以产生线偏振光;
所述起偏器的输出端与所述待测保偏光纤延时环采用45度对轴角进行熔接,所述线偏振光分解为两束线偏振光后传输至所述待测保偏光纤延时环,两束线偏振光分别沿所述待测保偏光纤延时环的快轴和慢轴传播。
3.根据权利要求1所述的保偏光纤延时环测试系统,其特征在于,所述偏振光生成元件包括光源、耦合器、起偏器和直波导调制器,其中:
所述光源发出的光经所述耦合器后进入所述起偏器输入端,以产生线偏振光;
所述起偏器的输出端与所述直波导调制器采用45度对轴角进行熔接,所述线偏振光分解为两束正交的线偏振光后传输至所述直波导调制器;
所述直波导调制器的输出端与所述待测保偏光纤延时环熔接,将两束偏振光传输至所述待测保偏光纤延时环,两束线偏振光分别沿所述待测保偏光纤延时环的快轴和慢轴传播。
4.根据权利要求3所述的保偏光纤延时环测试系统,其特征在于,所述信号处理单元包括:
调制信号输出模块,输出调制信号至所述直波导调制器。
5.根据权利要求1所述的保偏光纤延时环测试系统,其特征在于,所述偏振光生成元件包括光源、耦合器、Y波导调制器和偏振合束器,其中:
所述光源发出的光经所述耦合器后进入所述Y波导调制器的调制输入端,以产生线偏振光,经所述Y波导调制器的两个输出端输出;
所述Y波导调制器的第一端输出端与所述偏振合束器的一个输入端采用90度对轴角进行熔接,所述Y波导调制器的第二输出端与所述偏振合束器的另一个输入端采用0度对轴角进行熔接,以使进入所述偏振合束器的为两束正交的偏振光;
所述偏振合束器的输出端与所述待测保偏光纤延时环熔接,将两束正交的偏振光传输至所述待测保偏光纤延时环,两束正交的偏振光分别沿所述待测保偏光纤延时环的快轴和慢轴传播。
6.根据权利要求5所述的保偏光纤延时环测试系统,其特征在于,所述信号处理单元包括:
调制信号输出模块,输出调制信号至所述Y波导调制器。
7.根据权利要求1-6任一项所述的保偏光纤延时环测试系统,其特征在于,还包括:
环境发生器,所述待测保偏光纤延时环置于所述环境发生器内部,所述环境发生器响应上位机的控制信号模拟所述待测保偏光纤延时环所处环境。
8.根据权利要求7所述的保偏光纤延时环测试系统,其特征在于:
所述环境发生器模拟的所述待测保偏光纤延时环所处环境包括:温度、湿度、振动、冲击和辐照中的至少一种。
9.根据权利要求7所述的保偏光纤延时环测试系统,其特征在于,还包括:
电流发生器,输出预设电流至所述通电导体;
基准互感器,检测所述电流发生器输出预设电流的电流值,作为所述通电导体中的基准电流值。
10.根据权利要求9所述的保偏光纤延时环测试系统,其特征在于,还包括:
误差计算单元,获取所述基准互感器检测的通电导体中的基准电流值以及所述信号处理单元解析得到的所述待测保偏光纤延时环所处环境对应的电流值得到所述测量误差;
所述误差计算单元发送所述测量误差至所述上位机。
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