[实用新型]螺旋测微仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及测量领域，特别涉及一种螺旋测微仪。

背景技术

螺旋测微器又称千分尺（micrometer）、螺旋测微仪、分厘卡，是比游标卡尺更精密的测量长度的工具，用它测长度可以准确到0.01mm，测量范围为几个厘米，螺杆转动的整圈数由固定套管上间隔0.5mm的刻线去测量，不足一圈的部分由活动套管周边的刻线去测量，最终测量结果需要估读一位小数。

如公告号为“CN205175262U”的中国专利所公开的一种千分尺，它包括固定套筒和微分筒，在固定套筒上设置有周向的零线，这种千分尺够提高精度并且能在一定程度上避免误读；在测量过程中，需要将待测量物体放置在测砧和测微螺杆之间才可进行测量，所以它的弊端在于只能够测量出尺寸小于测砧和测微螺杆之间距离的物体。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供能够测量尺寸大于测砧和测微螺杆之间距离的螺旋测微仪。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种螺旋测微仪，包括固定套管、微分筒、尺架和旋钮，所述尺架两端分别设置有测砧和测微螺杆，所述测砧向外延伸设置有第一长杆，所述测微螺杆上向外延伸设置有与第一长杆位于同一平面但不平行的第二长杆，所述第一长杆和第二长杆上设置有刻度，所述第一长杆和第二长杆长度可调节。

通过采用上述技术方案，第一长杆和第二长杆向外延伸形成喇口，将待测量物体放置在第一长杆和第二长杆之间，第一长杆和第二长杆端部的距离即为待测量物体的长度，而第一长杆和第二长杆之间的距离又是和测砧、测微螺杆之间的距离成比例放大的，测量出第二长杆和尺架之间的角度，读出测砧和测微螺杆之间的距离，再读出第一长杆、第二长杆上的读数，而后根据等比例放大关系算出第一长杆和第二长杆端部之间的距离，即待测量物体的长度。

作为优选，所述第二长杆铰接在测微螺杆上，所述第二长杆和测微螺杆之间设置有角度测量装置。

通过采用上述技术方案，将第二长杆绕铰接在测微螺杆上，可根据待测量的物体尺寸大小调节第二长杆与测微螺杆之间的角度，即了，即调整第二长杆与第一长杆之间的角度，根据设置在第二长杆与测微螺杆之间的角度测量装置读出第二长杆与第一测微螺杆之间的角度，从而知道第一长杆和第二长杆之间的角度关系，从而计算出待测量物体的长度。

作为优选，所述角度测量装置包括设置在测微螺杆上的第一凹槽和卷设在第一凹槽中的卷尺，所述卷尺上设置有角度，所述卷尺的另一端固定在第二长杆上。

通过采用上述技术方案，随着第二长杆绕铰接点的转动将卷设在第一凹槽中的卷尺扯开，读出卷尺上的角度，即可知道第二长杆与测微螺杆之间的角度关系。

作为优选，所述第一长杆由多根子长杆相互套设而成，所述子长杆的两端分别设置有第一通孔和能与第一通孔配合卡嵌的弹簧钢珠，所述第二长杆与第一长杆结构相同。

通过采用上述技术方案，在子长杆的两端分别设置第一通孔和弹簧钢珠，且第一长杆是由多根子长杆相互套设而成，将互相套设的子长杆依次拽出，即可实现第一长杆长度可调节的效果，将弹簧钢珠卡嵌在第一通孔中时，即可将第一长杆长度固定；第二长杆与第一长杆结构原理相同。

作为优选，所述第二长杆端部铰接有第三长杆。

通过采用上述技术方案，由于第一长杆和第二长杆之间有一定的角度，所以第一长杆和第二长杆之间是呈喇口形的，在第二长杆的端部铰接有第三长杆，调节第三长杆的位置，使第三长杆与第一长杆平行才，从而更好的将待测量物体夹设在第一长杆和第二长杆之间。

作为优选，所述第一长杆和第二长杆的底部设置有粘胶层。

通过采用上述技术方案，为了避免夹设在第一长杆和第二长杆之间的物体脱落，在第一长杆和第二长杆底部设置粘胶层，利用粘胶层将待测量物体粘粘在第一长杆和第二长杆之间，起到固定的效果，避免戴策亮物体从第一长杆和第二长杆之间脱落。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：第一长杆和第二长杆向外延伸形成喇口，将待测量物体放置在第一长杆和第二长杆之间，第一长杆和第二长杆端部的距离即为待测量物体的长度，而第一长杆和第二长杆之间的距离又是和测砧、测微螺杆之间的距离成比例放大的，测量出第二长杆和尺架之间的角度，读出测砧和测微螺杆之间的距离，再读出第一长杆、第二长杆上的读数，而后根据等比例放大关系算出第一长杆和第二长杆端部之间的距离，即待测量物体的长度。

附图说明

图1是实施例中整体结构示意图；