[实用新型]一种模组化测试机

说明书

技术领域

本实用新型属于模组化测试机技术领域，具体涉及一种模组化测试机。

背景技术

常见的LED元件一般是具有两个引出端、阻值可按某种变化规律调节的电阻元件，随着电子科技的不断发展，LED元件的应用也越来越广泛，流水线下线的一般都是多个LED元件并排成为一个电LED元件组，相邻的LED元件之间的引脚彼此相连，因此还需要人工将LED元件组相连的引脚切除，才能得到单个独立的LED元件，而LED元件的测试也是通过人工将单个的LED元件放置与LED元件测试装置上进行测试。

LED元件的切脚以及测试由人工操作使得LED元件的生产加工以及检测的效率低下，不能满足大批量生产的要求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种模组化测试机，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现本实用新型目的，采用的技术方案是：一种模组化测试机，包括输送带、滚动轴、水平滑轨、待测试元件、滑槽、连接杆、探头、探针和滑杆，所述模组化测试机的工作台下层设置为输送带，所述输送带由滚动轴带动输送，所述输送带的两侧的上端固定架有水平滑轨，所述水平滑轨上固定套有滑槽，所述滑槽之间固定连接有滑杆，所述滑杆的下表面固定连接有连接杆，所述连接杆的头部固定设置为探头，所述探头上固定安装有探针。

优选的，所述探头包括上探头、转轴和下探头，其中，下探头绕转轴进行允许角度内旋转。

优选的，所述探针固定连接在下探头上。

优选的，所述下探头内部安装有亮度传感器，用于感知待测试元件的亮度。

优选的，所述上探头内部安装有伏安表，用于测试待测试元件是否导通。

优选的，所述滑槽和滑杆为步进电动机驱动，从左到右进行模组化测试，测试一轮后，从右到左返回模组化测试，在进行新一轮循环。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本模组化测试机结构简单，设计新颖，使用方便，由于在模组化测试机上设置有输送带、滚动轴、水平滑轨、待测试元件、滑槽、连接杆、探头、探针和滑杆，使用输送带、滚动轴、水平滑轨、滑槽、连接杆、探头、探针和滑杆协同工作，使用探头和探针侧视LED元件，既测试了LED元件的导通情况，也测试了其亮度，使用水平滑轨和滑槽，使得测试能够自动化进行，提高了模组化测试的效率，优化了设计，满足了设计要求。

附图说明

图1是本实用新型模组化测试机结构示意图。

图2是本实用新型模组化测试机俯视结构示意图。

图3是本实用新型模组化测试机探头结构示意图。

图4是本实用新型模组化测试机探头和探针移动结构示意图。

图5是本实用新型模组化测试机探头和探针工作结构示意图。

图中：1、输送带；2、滚动轴；3、水平滑轨；4、待测试元件；5、滑槽；6、连接杆；7、探头；8、探针；9、滑杆。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-5所示，本实用新型提供一种技术方案：一种模组化测试机，包括输送带1、滚动轴2、水平滑轨3、待测试元件4、滑槽5、连接杆6、探头7、探针8和滑杆9，所述模组化测试机的工作台下层设置为输送带1，所述输送带1由滚动轴2带动输送，所述输送带1的两侧的上端固定架有水平滑轨3，所述水平滑轨3上固定套有滑槽5，所述滑槽5之间固定连接有滑杆9，所述滑杆9的下表面固定连接有连接杆6，所述连接杆6的头部固定设置为探头7，所述探头7上固定安装有探针8。

工作原理：使用时,使用滑槽5和滑杆9带动连接杆6在水平滑轨3上运动，使得探头7和探针8能够进行工作，使用上探头701、下探头703和探针8感知待测试元件4是否导通和是否正常发光。

其中，所述探头7包括上探头701、转轴702和下探头703，其中，下探头703绕转轴702进行允许角度内旋转。

其中，所述探针8固定连接在下探头703上。

其中，所述下探头703内部安装有亮度传感器，用于感知待测试元件4的亮度。

其中，所述上探头701内部安装有伏安表，用于测试待测试元件4是否导通。

其中，所述滑槽5和滑杆6有步进电动机驱动，从左到右进行模组化测试，测试一轮后，从右到左返回模组化测试，在进行新一轮循环。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。