[实用新型]集成电路水平旋转装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及集成电路分选领域，尤其是一种集成电路水平旋转装置。

背景技术

集成电路分选机是用于对集成电路产品进行性能测试的设备。集成电路分选过程中，需要进行水平旋转；传统的集成电路分选机的旋转机构存在为防止集成电路脱离轨道旋转速度较慢和接地电阻较大的不足；因此，设计一种旋转速度较快且集成电路不会脱离轨道同时具备静电消除功能的集成电路水平旋转装置，成为亟待解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了克服目前的集成电路分选机的旋转机构存在为防止集成电路脱离轨道旋转速度较慢和接地电阻大的不足，提供一种旋转速度较快且集成电路不会脱离轨道同时具备静电消除功能的集成电路水平旋转装置。

本实用新型的具体技术方案是：

一种集成电路水平旋转装置，包括：支座；所述的集成电路水平旋转装置还包括：上端设有圆孔且与支座上端连接的旋转座，设于圆孔中且两端设有与圆孔侧围匹配的圆弧面的转动板，设于转动板上端的底轨，设于转动板下端且与支座枢接的连接轴，转动驱动装置，设有吹气中孔且下端插入底轨中部的中挡杆，分别与中挡杆和旋转座连接的挡块，设有位于中挡杆两侧的升降挡杆的升降驱动装置，与支座连接的零位检测传感器；旋转座的两端各设有一个与圆孔侧围贯通的集成电路通孔；集成电路进料或出料时，升降挡杆上升，底轨的两端与两个集成电路通孔一一对应连通。集成电路水平旋转装置使用时，升降挡杆下端一一对应挡住集成电路通孔，使集成电路不能进入底轨；转动驱动装置驱动转动板转动，使进料轨道与一个集成电路通孔连通，另一个集成电路通孔与出料轨道连通，零位检测传感器测定零位后，升降驱动装置驱动升降挡杆上升，一个集成电路从进料轨道经一个集成电路通孔进入底轨；转动驱动装置驱动转动板转动180度，压缩空气从吹料中孔吹出，完成转向的集成电路从另一个集成电路通孔进入出料轨道出料。该集成电路水平旋转装置旋转时，圆孔侧围挡住底轨的两端，旋转速度较快且集成电路不会脱离轨道。

作为优选，所述的中挡杆下端设有球头。减少转动板转动时的摩擦阻力，使转动更灵活。

作为优选，所述的转动驱动装置包括：与支座连接的步进电机，联轴器；步进电机的输出轴通过联轴器与连接轴连接，连接轴外套设有导电滑环。转动驱动装置结构简单且转动精度高；导电滑环利于静电接地导出。

作为优选，所述的升降驱动装置包括：与支座上端连接的气缸，分别与气缸的活塞杆和升降挡杆连接的连接架。升降驱动装置结构简单可靠。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该集成电路水平旋转装置旋转时，圆孔侧围挡住底轨的两端，旋转速度较快且集成电路不会脱离轨道。中挡杆下端设有球头，减少转动板转动时的摩擦阻力，时转动更灵活。转动驱动装置结构简单且转动精度高。升降驱动装置结构简单可靠；导电滑环利于静电接地导出。

附图说明

图1是本实用新型的一种结构示意图。

图中：支座1、圆孔2、旋转座3、圆弧面4、转动板5、底轨6、连接轴7、中挡杆8、挡块9、升降挡杆10、吹料中孔11、零位检测传感器12、集成电路通孔13、步进电机14、联轴器15、气缸16、连接架17、导电滑环18。

具体实施方式

下面结合附图所示对本实用新型进行进一步描述。

如附图1所示：一种集成电路水平旋转装置，包括：支座1，上端设有圆孔2且与支座1上端螺钉连接的旋转座3，设于圆孔2中且两端设有与圆孔2侧围间隙配合的圆弧面4的转动板5，设于转动板上端的底轨6，设于转动板5下端且与支座1通过轴承枢接的连接轴7，转动驱动装置，设有吹料中孔11且下端插入底轨6中部的中挡杆8，分别与中挡杆8和旋转座3螺钉连接的挡块9，设有位于中挡杆8两侧的升降挡杆10的升降驱动装置，与支座1螺钉连接的零位检测传感器12；旋转座3的两端各设有一个与圆孔2侧围贯通的集成电路通孔13；集成电路进料或出料时，升降挡杆10上升，底轨6的两端与两个集成电路通孔13一一对应连通。零位检测传感器12为光电传感器。

所述的中挡杆8下端设有球头（附图中未画出）。

所述的转动驱动装置包括：与支座1螺钉连接的步进电机14，联轴器15；步进电机14的输出轴通过联轴器15与连接轴7连接，连接轴7外套设有导电滑环18。

所述的升降驱动装置包括：与支座1上端螺钉连接的气缸16，分别与气缸16的活塞杆和升降挡杆10连接的连接架17。