[实用新型]巴克豪森阵列传感器

说明书

技术领域

本实用新型涉及检测领域，具体而言，涉及一种巴克豪森阵列传感器。

背景技术

目前，在大量工程现场中，应力无处不在，在应力检测中，较为成熟的方法是X射线衍射法、盲孔法。X射线衍射法测量准确，但射线辐射较大，且射线设备体积较庞大，适合实验室使用，对于现场使用较为不便，对于大型零件及运动中瞬态应力测量不便；盲孔法通过在被测物体表面钻取小孔，通过小孔附近区域的形变而计算得到物体内部应力，其对材料具破坏性且对大面积检测及应力成像较为困难；因此，迫切需要一种对关键部件应力分布及其成像的快速无损检测手段。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

实用新型内容

本实用新型实施例提供了一种巴克豪森阵列传感器，以至少解决现有技术中无法对待检测物体的应力分布进行快速无损检测并成像的技术问题。

根据本实用新型实施例的一个方面，提供了一种传感器，包括：外壳；磁轭，设置在所述外壳上，用于导磁；编码器，设置在所述磁轭上，用于在所述传感器运动的过程中检测所述传感器的位置信息；巴克豪森接收器阵列，用于接收被检测材料的不同位置的巴克豪森信号，其中，所述巴克豪森接收器阵列包括多个巴克豪森接收器；激励线圈，设置在所述磁轭上，用于通过交流电进行局部磁化。

进一步地，所述磁轭与所述巴克豪森接收器阵列形成的表面为预设形状，其中，所述预设形状由待检测物体的表面形状决定。

进一步地，所述多个巴克豪森接收器排成一排或者方阵。

进一步地，所述传感器还包括：滚轮，设置在所述外壳上。

根据本实用新型实施例的另一方面，还提供了一种检测系统，包括：函数发生器，与功率放大器、计算机均相连，用于产生激励信号；功率放大器，与所述函数发生器、所述传感器均相连，用于将所述函数发生器产生的激励信号进行放大，放大后的激励信号用于激励所述传感器工作；权利要求1至3任一项所述的传感器，与所述功率放大器、编码器配套电路、信号处理器均相连，用于接收多路巴克豪森信号；编码器配套电路，与所述传感器、所述计算机均相连；信号处理器，与所述传感器、所述计算机均相连，用于对所述多路巴克豪森信号进行放大和滤波；计算机，与所述信号处理器、所述编码器配套电路、所述函数发生器均相连，用于控制所述函数发生器产生激励信号，接收并分析所述信号处理器发送的处理过的多路巴克豪森信号，以及接收并解析所述编码器配套电路发送的信号。

进一步地，所述传感器的巴克豪森接收器阵列与所述信号处理器相连，所述传感器的编码器与所述编码器配套电路相连，所述传感器的激励线圈与所述功率放大器相连。

进一步地，所述信号处理器包括：多通道前置放大器，与多通道滤波器、所述巴克豪森接收器阵列均相连，用于对所述多路巴克豪森信号进行放大；多通道滤波器，与所述多通道前置放大器、所述计算机均相连，用于将放大后的巴克豪森信号进行滤波。

进一步地，所述信号处理器包括：多通道滤波器，与多通道前置放大器、所述巴克豪森接收器阵列均相连，用于对多路巴克豪森信号进行滤波；多通道前置放大器，与所述多通道滤波器、所述计算机均相连，用于对滤波后的多路巴克豪森信号进行放大。

在本实用新型实施例中，共用同一个激励磁轭而采用阵列式巴克豪森信号接收器方式同时获取被检部件不同位置巴克豪森信号，在保证激励信号的一致性的同时提高了检测效率，通过编码器获取位置信息，阵列式传感器获取不同位置巴克豪森信号，通过对巴克豪森信号进行分析，得到待检测物体的应力分布，不会对待检测物体造成损伤，而且，阵列式传感器一次获取多个位置的巴克豪森信号，检测效率高，达到了对待检测物体的应力分布进行快速无损检测并成像的技术效果，进而解决了现有技术中无法对待检测物体的应力分布进行快速无损检测并成像的技术问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1-1是根据本实用新型实施例的一种传感器的示意图；

图1-2是根据本实用新型实施例的又一种传感器的示意图；

图1-3是根据本实用新型实施例的又一种传感器的示意图；

图1-4是根据本实用新型实施例的又一种传感器的示意图；

图1-5是根据本实用新型实施例的又一种传感器的示意图；

图1-6是根据本实用新型实施例的又一种传感器的示意图；

图2-1是根据本实用新型实施例的传感器检测平面表面的示意图；