[实用新型]一种用于测量波长的光学装置

说明书

技术领域

本实用新型属于光学棱镜技术领域，特别是涉及一种用于测量波长的光学装置。

背景技术

现行改变激光方向的装置精度控制误差大且控制方法需反复多次，特别是其中心产品光学腔是激光波长计仪器的核心光学元件。波长计是通过光学测量手段，精确测量激光波长量值的唯一仪器。产品被广泛应用于科研、光通讯及工业领域。设计的波长计整体，现行的光学腔无法用于高精度测量脉冲激光或连续激光波长的光谱及分析。

因此，如何研发一种用于测量波长的光学装置，避免了反复拆卸维护调试等问题、以提高了使用寿命，便成为亟待解决的技术问题。

实用新型内容

本实用新型解决的主要问题是提供一种用于测量波长的光学装置及控制方法，以解决激光方向的高精密控制和反复拆卸维护调试等问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型公开了一种用于测量波长的光学装置，包括设有外周壁、上盖板和下盖板的腔体和在远离所述下盖板的外表面设置的反射装置，在所述腔体内部并且在该下盖板内表面上设置有与所述反射装置对应的棱柱，所述反射装置包括支架，所述支架靠近所述下盖板的一端固接有具有反射面的反射镜，其远离所述下盖板的另一端转动连接有底座；所述反射面朝待测光线射入方向设置，所述反射面与所述下盖板的外表面呈可调整的锐角；所述支架可向靠近或者远离所述下盖板方向调整，所述底座沿待测光线射入方向设置，所述反射装置的数量至少为两个。

最好，待测光线从一个方向投射到所述反射面，所述对应的棱柱与所述反射面在该下盖板的内表面上的正投影至少部分重合使得待测光线通过所述反射面进入到所述棱柱中，然后进入到对应的棱柱中,然后进入到上盖板，最后从上盖板出来用于测量。

最好，所述上盖板的内表面与下盖板的内表面平行于待测光线方向。

最好，所述上盖板的外表面和该下盖板的外表面倾斜于入射光线。

最好，所述棱柱具有不同的高度，间隔设置。

最好，所述棱柱的上表面沿所述反射面之延展面与所述底座固接所述支架之平面的连接线方向倾斜。

最好，所述腔体内充有惰性气体。

本实用新型达到了如下效果：解决了决激光方向的高精密控制和反复拆卸维护调试等问题，本实用新型光学腔可应用于高精度测量脉冲激光或连续激光波长的光谱及分析。该实用新型的光学腔测量激光波长的精度可以达到1×10^-7，具有使用方便的优点。

当然，实施本实用新型的任一产品必不一定需要同时达到以上所述的所有技术效果。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1、图2、图3、图4、图5、图6是本实用新型实施例所述的一种用于测量波长的光学装置的整体结构图。

具体实施方式

如在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”为一开放式用语，故应解释成“包含但不限定于”。“大致”是指在可接收的误差范围内，本领域技术人员能够在一定误差范围内解决所述技术问题，基本达到所述技术效果。

实施例一：

如图1、图2、图5、图6为本实用新型的实施例提供了一种用于测量波长的光学装置结构示意图，包括设有外周壁2、上盖板4和下盖板5的腔体，在该腔体下盖板上设置四个反射装置1，分别为反射装置11、反射装置12、反射装置13、反射装置14；反射装置11、反射装置12、反射装置13和反射装置14的高度通过各反射装置1的支架，使得各反射装置1靠近下盖板5方向沿光线射入方向依次递增，在所述腔体内部并且在该下盖板内表面52上设置的与该反射装置对应的棱柱，分别为棱柱31、棱柱32、棱柱33、棱柱34，调整各反射面与下盖板5外表面的夹角，使得待测光线经由反射装置1、下盖板5、棱柱3和所述上盖板4后形成仅具有不同光程的光线以用于测量。

所述反射装置1的反射面为待测光线L从左至右的投射面，经由反射面的反射改变光线的方向，光线从下盖板5进入对应的棱柱3与所述反射镜1在该下盖板的内表面上的正投影至少部分重合使得待测光线通过所述反射镜1进入到所述棱柱3中，然后进入到所述下盖板5中，然后进入到对应的棱柱3中,然后进入到上盖板4，最后从上盖板4出来用于测量。