[实用新型]一种偏振辐射定标装置有效

专利信息
申请号: 201720063479.2 申请日: 2017-01-19
公开(公告)号: CN206410852U 公开(公告)日: 2017-08-15
发明(设计)人: 殷德奎;王培纲;顾明剑;梁科锋;陆靖靓;李玥 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01M11/04 分类号: G01M11/04
代理公司: 上海新天专利代理有限公司31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 偏振 辐射 定标 装置
【说明书】:

技术领域

专利涉及空间遥感技术、辐射定标技术,具体指一种使用于空间遥感仪器的地面偏振辐射定标试验装置,可应用于测量与确定偏振探测仪器、辐射探测仪器的偏振光参量与响应值之间的关系,具有光强稳定均匀、偏振态调节范围大(偏振度0~1,偏振角0°~360°)、测量精度高(优于1%)等优点。

背景技术

空间定量遥感仪器在应用之前,需要预先在地面完成定标试验,确定输入物理量与仪器测量响应值之间的关系。对于空间偏振探测仪器,要完成偏振辐射定标试验,确立入射偏振光Stokes参量与仪器响应值的关系,从而在应用时才能够依据测量值来得到入射偏振光的Stokes参量。

目前,关于偏振辐射的计量方面尚缺乏有关国家标准,如何构造标准偏振辐射源、如何传递偏振辐射标准尚属研究空白。

作为空间偏振探测仪器研制的领先国家,法国空间研究中心CNES在研制空间偏振探测仪器POLDER的过程中,进行了偏振辐射定标试验的研究。主要定标试验设备有:积分球、偏振系统和参考辐射计。其中关键的偏振系统用来产生不同偏振度和偏振角的偏振光,其主要构成部件是相互平行的两块玻璃板,可沿两个轴向调节旋转角度,沿一个轴向旋转可调节偏振度(0~0.5),沿另一个轴向旋转可调节偏振角。该方法的优点是偏振度和偏振角调节方便,缺点是受玻璃板旋转角度限制、难以获得高偏振度偏振光,另外光线经过两块玻璃板折射和反射后、影响定标精度。

发明内容

本专利装置的目的是测量偏振探测仪器的偏振定标响应关系,解决偏振辐射源缺乏、无法进行偏振定标测量的问题。

该装置包括:离轴反射式平行光管1、光学隔振平台2、高亮度积分球3、标准偏振器4、内调焦准直望远镜5、安装支架6、偏振光计量仪7、数显万能转台8,其特征在于:

离轴反射式平行光管1用螺钉固定在光学隔振平台2上;所述的标准偏振器4安装在高亮度积分球3出光窗口,所述的安装支架6安装在数显万能转台8上,安装支架6具有0°、90°、±45°安装方式,数显万能转台8水平调节角度为0°~360°,偏振光计量仪7安装于数显万能转台8上,接收从标准偏振器4发出的标准偏振光;所述的离轴反射式平行光管1、高亮度积分球3、偏振光计量仪7的光轴对齐。

一种基于权利1所述的偏振辐射定标装置的测量数据处理方法,其特征在于,方法步骤如下:

1)高亮度积分球3与标准偏振器4配合产生标准偏振光。设置高亮度积分球3和标准偏振器4的状态,使得偏振光状态偏振度和偏振角确定;

2)被测仪器接收这种偏振光,产生一定的输出,对应一定的光强信号[I1、I2、I3];

3)偏振光计量仪7同样接收步骤1产生的偏振光,得到偏振光的斯托克斯参数[S0、S1、S2];

4)调整标准偏振器4的角度,重复步骤1)~3),得到不同偏振状态的[I1、I2、I3]与对应的[S0、S1、S2],从而建立两组变量之间的关系:

偏振辐射定标试验结果表明,该专利装置可测量偏振探测仪器对线偏振光的响应方程,与理论上的椭圆响应模型一致。经检验,辐射源的辐射稳定性优于0.2%,偏振度调节范围0~1,偏振角调节范围0°~360°,所标定的偏振测量精度结果优于1%。

附图说明

图1偏振辐射定标试验装置

图2偏振光计量曲线,图2(a)、图2(b)分别为偏振光Stokes参量S1、S2与偏振角的关系曲线

图3被测量仪器的偏振测量曲线,图3(a)、图3(b)、图3(c)分别为透射光强I1、I2、I3与偏振角的关系曲线

图4被测量仪器的偏振响应曲线,图4(a)、图4(b)、图4(c)分别为偏振光Stokes参量S1与透射光强I1、I2、I3的关系曲线

具体实施方式

本专利装置的测量试验方法是:

离轴反射式平行光管1安放在光学隔振平台2上,配合使用内调焦准直望远镜5,用于检验平行光管入射光与被测仪器光轴之间的准直性。

高亮度积分球3与标准偏振器4配合产生标准偏振光。被测仪器接收这种偏振光,被测仪器通过安装支架6安装于数显万能转台8上,这样可调节被测仪器接收的入射光角度。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海技术物理研究所,未经中国科学院上海技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720063479.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top