[实用新型]X‑γ辐射剂量测试仪有效

专利信息
申请号: 201720047657.2 申请日: 2017-01-16
公开(公告)号: CN206411277U 公开(公告)日: 2017-08-15
发明(设计)人: 陈坚剑 申请(专利权)人: 上海怡星机电设备有限公司
主分类号: G01T1/02 分类号: G01T1/02
代理公司: 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙)31297 代理人: 孙益青
地址: 201715 上海市青浦区练塘*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 辐射 剂量 测试仪
【说明书】:

技术领域

实用新型属于测量检定装置技术领域。具体来说涉及一种X-γ辐射剂量测试仪。

背景技术

随着技术的不断进步和发展和普及,如建筑材料、核医学诊断治疗、工业探伤放射源、辐照放射源等带有人工辐射的场所开始出现在人们的生活中。而人工放射性的存在与强弱直接影响到了人们的健康安全,因此在上述场所中能否识别天然本地辐射和人工辐射是一个重要的安全检查项目。目前现有技术中的辐射测量设备其辐射检测范围都是有限的。分为低剂量率辐射测试仪和高剂量率辐射测试仪。这些产品的缺陷在于,当工作人员进入一个辐射强度未知的新场所进行辐射检测时往往无所适从。比如,若是工作人员携带高剂量率辐射测试仪进入一个低强度辐射场所,则工作人员会发现检测不到人工辐射而出现误判。若是工作人员携带低剂量率辐射测试仪进入一个高强度辐射场所,则工作人员仅能读出低剂量率辐射测试仪所能测得的最高辐射强度,不但无法获取准确的检测结果,工作人员还会因没有做出及时的防护而对身体健康产生负面影响。因此,如何开发出一种新型的辐射剂量测试仪,适用于对辐射强度未知的新场所进行辐射测试,是本领域技术人员需要研究的方向。

实用新型内容

本实用新型提供了一种X-γ辐射剂量测试仪,具有较广的有效辐射检测范围,适用于对辐射强度未知的新场所进行辐射测试,

其采用的具体技术方案如下:

一种X-γ辐射剂量测试仪,包括:低剂量率X-γ辐射测试头、高剂量率X-γ辐射测试头、信号转换器、脉冲甄别器、计数器和控制器;所述低剂量率X-γ辐射测试头为探测范围是1nSv/h - 100mSv/h的辐射测试器;所述高剂量率X-γ辐射测试头为探测范围是100μSv/h - 10Sv/h的辐射测试器;所述低剂量率X-γ辐射测试头、信号转换器、脉冲甄别器、计数器和控制器依序连接;所述高剂量率X-γ辐射测试头、信号转换器、脉冲甄别器、计数器和控制器依序连接;所述控制器内设有计算单元和测试器切换单元,测试器切换单元用于切换使用所述低剂量率X-γ辐射测试头和高剂量率X-γ辐射测试头;所述计算单元内预先写入有辐射剂量的第一阈值和第二阈值;当所述计算单元计算出低剂量率X-γ辐射测试头所测辐射量高于第一阈值或高剂量率X-γ辐射测试头所测辐射量低于第二阈值时,计算单元激活测试器切换单元。

通过采用这种技术方案:以低剂量率X-γ辐射测试头通过测量的脉冲幅度上阈和下阈时分布,计算相应的积分计数率,并与参考计数率比值比较,实现对天然放射性与人工放射性的区分。当计算单元计算出低剂量率X-γ辐射测试头所测辐射量高于阈值时,判断进入高辐射地带,由测试器切换单元切换至高剂量率X-γ辐射测试头进行工作。而当计算单元计算出高剂量率X-γ辐射测试头所测辐射量低于阈值时,判断进入低辐射地带,以测试器切换单元切换至低剂量率X-γ辐射测试头进行工作。

优选的是:在上述X-γ辐射剂量测试仪中,所述低剂量率X-γ辐射测试头包括硅光二极管,碘化铯晶体,光反射层和封装外壳;所述碘化铯晶体安装于所述封装外壳内,所述硅光二极管安装于封装外壳上、对碘化铯晶体辐射激发光束;所述光反射层设于封装外壳与碘化铯晶体之间。采用此种结构,在不使用光电倍增管的情况下灵敏度高达400cps/uSv/h,具有检测灵敏度极高的特点。另一种优选方向是:在上述X-γ辐射剂量测试仪中,所述高剂量率X-γ辐射测试头采用G-M计数器。采用此种辐射测试器,其探测上限可高达10Sv/h。

进一步优选的是,上述X-γ辐射剂量测试仪中:还包括LED报警灯,所述LED报警灯连接控制电路,所述控制电路中设有报警灯控制单元、用于控制LED报警灯闪烁。

通过采用这种技术方案:以LED报警灯通过不同颜色指示低剂量率X-γ检测头和高剂量率X-γ检测头的工作状态。

更进一步优选的是,上述X-γ辐射剂量测试仪中:还包括扩展接口模块,所述扩展接口模块安装于控制器上。

通过采用这种技术方案:以扩展接口模块外接和识别各种不同类型的智能检测头。

与现有技术相比,本实用新型结构简单,易于实现。适用于各类不同的辐射强度未知的测量场所、能区分天然本地辐射和人工辐射。

附图说明

下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明:

图1为本实用新型实施例1的结构框图;

图2为图1中低剂量率X-γ辐射测试头的结构示意图;

图3为本实用新型实施例2的结构框图;

图4为本实用新型实施例3的结构框图。

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