[实用新型]一种X射线成像器件的瞄准装置有效

专利信息
申请号: 201720026704.5 申请日: 2017-01-11
公开(公告)号: CN206421034U 公开(公告)日: 2017-08-18
发明(设计)人: 任宽;刘慎业;侯立飞;杜华冰;景龙飞;赵阳;杨志文;韦敏习;邓克立;姚立;詹夏宇;李晋;杨国洪;李三伟;江少恩;董建军;曹柱荣;丁永坤 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01T1/28 分类号: G01T1/28
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心51210 代理人: 翟长明,韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 射线 成像 器件 瞄准 装置
【权利要求书】:

1.一种X射线成像器件的瞄准装置,其特征在于,所述的瞄准装置包括X射线成像器件(2)、瞄准透镜(3)、可调光阑(4)、支撑机构(5)、四维调节机构(6)和监视器(7);所述的支撑机构(5)为水平放置的圆筒,瞄准透镜(3)竖直卡在圆筒中,X射线成像器件(2)位于瞄准透镜(3)的中心;所述的可调光阑(4)为圆环形,放置在瞄准透镜(3)前端,并与支撑机构(5)固连;所述的支撑机构(5)与四维调节机构(6)连接,四维调节机构(6)通过支撑机构(5)调节瞄准透镜(3)的位置和瞄准透镜(3)的光学指向;所述的瞄准透镜(3)的中心、可调光阑(4)的中心、支撑机构(5)的中心和四维调节机构(6)的中心在同一条直线上;

靶(1)发射的可见光线通过打开状态的可调光阑(4)入射至瞄准透镜(3),在探测器记录面(8)上成像为像Ⅰ;靶(1)发射的X射线通过关闭状态的可调光阑(4)入射至X射线成像器件(2),在探测器记录面(8)上成像为像Ⅱ;像Ⅰ和像Ⅱ在探测器记录面(8)上重合;所述的监视器(7)实时监视像Ⅰ在探测器记录面(8)上的位置。

2.根据权利要求1所述的X射线成像器件的瞄准装置,其特征在于,所述的靶(1)为惯性约束聚变ICF使用的平面靶、球靶、腔靶或异形靶中的一种。

3.根据权利要求1所述的X射线成像器件的瞄准装置,其特征在于,所述的X射线成像器件(2)为惯性约束聚变ICF中用于X射线成像的狭缝、狭缝阵列、针孔、针孔阵列、异形孔或异形孔阵列中的一种。

4.根据权利要求1所述的X射线成像器件的瞄准装置,其特征在于,所述的瞄准透镜(3)与X射线成像器件(2)的成像物距、像距相同,像距和物距满足透镜成像公式,瞄准透镜(3)的主光轴与X射线成像器件(2)中心的垂直距离小于等于150um。

5.根据权利要求1所述的X射线成像器件的瞄准装置,其特征在于,所述的瞄准透镜(3)的开孔尺寸大于X射线成像器件(2)的边界尺寸;所述的可调光阑(4)在关闭状态下,限光孔径大于靶(1)尺寸,并且小于X射线成像器件(2)边界尺寸。

6.根据权利要求1所述的X射线成像器件的瞄准装置,其特征在于,所述的四维调节机构(6)调节支撑机构(5)在垂直于支撑机构(5)的轴线的平面上进行基于平面的X轴和Y轴的平面位移,和基于平面的X轴和Y轴的翻转。

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