[实用新型]一种信号测试装置及用于LPT接口信号测试的控制电路有效

专利信息
申请号: 201720023395.6 申请日: 2017-01-09
公开(公告)号: CN206930734U 公开(公告)日: 2018-01-26
发明(设计)人: 王伟;甘茂庶 申请(专利权)人: 深圳市恒扬数据股份有限公司
主分类号: G01R31/04 分类号: G01R31/04
代理公司: 深圳中一专利商标事务所44237 代理人: 李婷
地址: 518000 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 信号 测试 装置 用于 lpt 接口 控制电路
【说明书】:

技术领域

实用新型属于测试电路技术领域,特别是涉及一种信号测试装置及用于LPT接口信号测试的控制电路。

背景技术

LPT接口一般用来连接打印机或扫描仪,其默认的中断号是IRQ7,采用25脚的DB-25接头。DB25,即25PIN D形连接器,与LPT接口配对的常用连接器。

目前,LPT接口是一种增强了的双向并行传输接口,在USB接口出现以前是扫描仪,打印机最常用的接口。LPT接口的最高传输速度为1.5Mbps,设备容易安装及使用,但是速度比较慢。大多数计算机都有一个或两个LPT接口,通常称为LPT1和LPT2,有些计算机支持三个LPT接口,称为LPT3,但无论它们有几个,名字如何,LPT1是默认的LPT。

图1示出了现有技术涉及的用于LPT接口测试的端口导通关系,DB25连接器与LPT接口配对使用,DB25连接器具有二十五个管脚,DB25连接器的二十五个管脚与LPT接口的二十五个端口一一对应相连接。根据将DB25连接器与LPT接口连接,并且根据电脑程序显示的数据即可实现对LPT接口的信号进行测量。但是,由于LPT接口中的端口连接关系为:第二个端口与第十五个端口导通,第三个端口与第十三个端口导通,第四个端口与第十二个端口导通,第五个端口与第十个端口导通,第六个端口与第十一个端口导通,其他端口均无导通,这样使得测试回路没有涵盖LPT接口的全部信号,而一旦没有涵盖到的信号出现断路、短路时,用现有测试方式测试仍然有可能会通过,从而导致次品流出工厂,甚至流向市场。

综上所述,现有的LPT接口测试技术存在着因未对LPT接口的所有端口进行测试导致测试不全面以及测试效率低下的问题。

实用新型内容

本实用新型目的在于提供一种信号测试装置及用于LPT接口信号测试的控制电路,旨在解决现有的LPT接口测试技术存在着因未对LPT接口的所有端口进行测试导致测试不全面以及测试效率低下的问题。

本实用新型提供了一种用于LPT接口信号测试的控制电路,所述LPT接口包括二十五个端口,所述LPT接口与测试夹具配对连接,所述控制电路具体为:

第一端口与第六端口导通连接,第二端口与第十一端口以及第十五端口导通连接,第三端口与第十三端口导通连接,第四端口与第十二端口导通连接,第五端口与第十端口连接,第七端口与第十四端口导通连接,第八端口与第十六端口导通连接,第九端口与第十七端口导通连接;

第十八端口、第十九端口、第二十端口、第二十一端口、第二十二端口、第二十三端口、第二十四端口以及第二十五端口均接至地信号。

本实用新型还提供了一种信号测试装置,包括测试夹具和LPT接口,所述LPT接口包括二十五个端口,所述LPT接口与所述测试夹具配对连接,所述信号测试装置还包括如上述所述的控制电路。

本实用新型提供了一种信号测试装置及用于LPT接口信号测试的控制电路,LPT接口包括二十五个端口,LPT接口与测试夹具配对连接,该控制电路具体为第一端口与第六端口导通连接,第二端口与第十一端口以及第十五端口导通连接,第三端口与第十三端口导通连接,第四端口与第十二端口导通连接,第五端口与第十端口连接,第七端口与第十四端口导通连接,第八端口与第十六端口导通连接,第九端口与第十七端口导通连接;第十八端口、第十九端口、第二十端口、第二十一端口、第二十二端口、第二十三端口、第二十四端口以及第二十五端口均接至地信号。由此实现了对LPT接口全信号进行回路测试,大大降低了LPT接口不良产品的漏检概率;并且只需将测试治具连接即可对LPT接口进行测试,提高了测试效率,解决了现有的LPT接口测试技术存在着因未对LPT接口的所有端口进行测试导致测试不全面以及测试效率低下的问题。

附图说明

图1为现有技术涉及的用于LPT接口测试的端口导通关系示意图;

图2为本实用新型实施例提供的一种用于LPT接口信号测试的控制电路的具体连接结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。

本实用新型实施例提供的一种用于LPT接口信号测试的控制电路,主要是通过测试夹具与LPT接口配合相连接,并且结合电脑程序对LPT接口的所有端口进行回路测试,达到了大大降低LPT接口不良产品的漏检概率以及提高测试效率的效果。

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