[实用新型]测量滚针垂直度的测微仪有效
申请号: | 201720021971.3 | 申请日: | 2017-01-10 |
公开(公告)号: | CN206387369U | 公开(公告)日: | 2017-08-08 |
发明(设计)人: | 沈奇;陈继君 | 申请(专利权)人: | 无锡市通达滚子有限公司 |
主分类号: | G01B5/245 | 分类号: | G01B5/245 |
代理公司: | 苏州广正知识产权代理有限公司32234 | 代理人: | 马云玉 |
地址: | 214183*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 垂直 测微仪 | ||
1.一种测量滚针垂直度的测微仪,其特征在于,包括:
立柱,垂直于基准座设置;
刻度标尺,垂直于立柱设置;
磁性基准,与基准座平行设置,且一侧端面与立柱侧面无缝隙贴合;
放大镜,平行于刻度标尺设置。
2.根据权利要求1所述的测量滚针垂直度的测微仪,其特征在于,放大镜通过底座固定于基准座上,所述底座上设有放大镜焦距调节装置。
3.根据权利要求1所述的测量滚针垂直度的测微仪,其特征在于,滚针吸附在磁性基准上,并与立柱接触,所述刻度标尺设于滚针上方。
4.根据权利要求1所述的测量滚针垂直度的测微仪,其特征在于,所述立柱为拒磁化金属立柱。
5.根据权利要求1所述的测量滚针垂直度的测微仪,其特征在于,刻度标尺为拒磁化标尺。
6.根据权利要求1所述的测量滚针垂直度的测微仪,其特征在于,刻度标尺通过锁紧螺母与立柱连接。
7.根据权利要求1所述的测量滚针垂直度的测微仪,其特征在于,所述放大镜为放大10倍或20倍放大镜。
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