[实用新型]高度测微仪的外圆基准有效

专利信息
申请号: 201720021958.8 申请日: 2017-01-10
公开(公告)号: CN206387355U 公开(公告)日: 2017-08-08
发明(设计)人: 沈奇;陈继君 申请(专利权)人: 无锡市通达滚子有限公司
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 苏州广正知识产权代理有限公司32234 代理人: 马云玉
地址: 214183*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 高度 测微仪 基准
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及测微仪领域,特别是涉及一种高度测微仪的外圆基准。

背景技术

轴承滚针、滚子生产厂家在国内众多,普遍水平均低于西方企业。中国的轴承相当部分不能进入欧洲主流领域,在国内轴承零件加工企业中,适用于现场的用于过程控制、监控的先进、稳定的测量仪器少之又少,其中缺乏和不能有效配置到方便、稳定、可靠的相适应的专用测量仪成为了我国生产高精度滚针及滚子的瓶颈。

国内众多滚针、小滚子生产中高度尺寸的测量大部分仍采用1、高精度千分尺,问题是易误读和缺外圆靠山基准,当滚子两平面出现平行四边形时,定位不可靠;

2、杠杆千分尺,同样缺外圆靠山,造成定位不可靠和误读,同时冷却水易渗入到测轴、测杆,水分蒸发后易形成结晶并卡死,使量具早期失效,缩短使用寿命。另外还有G903仪设计初衷是为滚子高度测量用的,但微调精度不方便和测量平台过大,如φ2×3、φ2×6.8滚针手动送入测台很不便,手都捏不住,且又对φ1、φ2滚针直径靠山没有,影响到定位和测量精度。这些问题看上去是小细节,却是过程监控的中的常见病,为国内轴承滚针、滚子企业提升质量,企业发展带来了不良影响。

实用新型内容

本实用新型主要解决的技术问题是提供一种高度测微仪的外圆基准,能够定位更准确、更稳妥,适合不同直径滚针对中心的测量。

为解决上述技术问题,本实用新型采用的一个技术方案是:提供一种高度测微仪的外圆基准,包括:

竖直基准、基准座和外圆靠山,所述基准座装配于竖直基准上,外圆靠山一端与基准座连接,另一端为与工件外圆紧贴的接触面,所述接触面为开口向外的V型,其角度为100°-130°。

在本实用新型一个较佳实施例中,基准座沿竖直基准上下位置可调,外圆靠山可左右移动式装配于基准座上。

在本实用新型一个较佳实施例中,所述外圆靠山的厚度为1.8mm~6mm。

在本实用新型一个较佳实施例中,外圆靠山的V型角度为120°。

本实用新型的有益效果是:本实用新型外圆靠山可使不同长短的滚针定位更准确、更稳妥,适合不同直径滚针对中心的测量。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图,其中:

图1是本实用新型高度测微仪的外圆基准一较佳实施例的结构示意图;

图2是图1所示高度测微仪的外圆基准中A向的结构示意图。

具体实施方式

下面将对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1和图2,本实用新型实施例包括:

一种高度测微仪的外圆基准,包括:竖直基准1、基准座2和外圆靠山3,所述基准座2装配于竖直基准1上。

本实用新型中基准座2沿竖直基准1上下位置可调,通过调节螺栓4松紧,移动基准座2的上下位置。外圆靠山3可左右移动式装配于基准座2上。

基准座2上下移动时,适合不同长短滚针更稳妥、更准确的定位:外圆靠山3左右移动时,适合不同直径滚针对中心的测量。

外圆靠山3一端与基准座3活动连接,另一端为与工件外圆紧贴的接触面5,接触面5是用厚度为1.8mm~6mm薄片加工成开口向外的V型,其角度为100°-130°。

本实用新型将外圆靠山的V型角度为120°,更加有利于直径母线定位。

外圆靠山3可使不同长短的滚针定位更准确、更稳妥,适合不同直径滚针对中心的测量。

以上所述仅为本实用新型的实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其它相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

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