[实用新型]用于低频磁场测量仪校准探头的定位装置有效

专利信息
申请号: 201720021621.7 申请日: 2017-01-09
公开(公告)号: CN206505172U 公开(公告)日: 2017-09-19
发明(设计)人: 赵品彰 申请(专利权)人: 江苏省计量科学研究院
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 南京钟山专利代理有限公司32252 代理人: 李小静
地址: 210023 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 用于 低频 磁场 测量仪 校准 探头 定位 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及仪器仪表和计量学设备技术领域,尤其涉及一种用于低频磁场测量仪校准探头的定位装置。

背景技术

低频磁场强度测量仪被广泛应用于卫生系统单位和环境评价机构,每天都在为全社会构建一个安全的电磁环境提供监测数据,是保障人体健康、人身安全的重要仪器设备。为了确保电磁场强测量仪能获得准确的测量结果,需对其进行校准,使其量值控制在允许的误差范围内。

校准低频磁场强度测量仪的方法为标准场法,校准系统的主要部分为低频电流源和亥姆霍兹线圈。为了保证测量结果的准确性,在校准低频磁场强度测量仪时,需要将其探头(如图1所示)按照不同的角度固定亥姆霍兹线圈的中心位置,目前国内的方法是手持探头,存在很大的弊端:

(1)手持时会产生抖动,影响到读数的稳定性;

(2)手处于在磁场中会对磁场产生扰动,影响到磁场的准确性;

(3)无法精确控制角度。

上述问题严重影响到测量结果的准确性。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题就在于:针对现有技术存在的技术问题,本实用新型提供一种用于低频磁场测量仪校准探头的定位装置,增强了探头固定的稳定性,实现了高度可调、角度可控,提高了校准结果的准确性和重复性。

为解决上述技术问题,本实用新型提出的技术方案为:

一种用于低频磁场测量仪校准探头的定位装置,包括底座、立柱、安装架、主刻度盘、副刻度盘,所述立柱固定于底座上,所述安装架安装于立柱上,所述安装架可沿立柱上下移动,所述主刻度盘和副刻度盘固定于安装架上,测量仪的探头装设于安装架上。

作为上述技术方案的进一步改进:

所述安装架包括第一连杆和第二连杆,所述第一连杆的两端分别设有第一安装座、第二安装座,所述第二连杆的一端设有第三安装座,所述第一安装座、第二安装座、第三安装座沿轴线方向都设有通孔,所述立柱穿设于第一安装座,所述第二连杆穿设于第二安装座。

所述主刻度盘穿套在第二连杆上,且固定于所述第二安装座的端面;所述副刻度盘固定于第三安装座的端面。

所述探头装设于第三安装座的通孔。

所述第一安装座和第二安装座的轴线相垂直。

所述立柱与第一安装座、所述第二连杆和第二安装座都通过螺栓可移动连接。

所述底座、立柱、安装架、主刻度盘、副刻度盘均为绝缘材料制成。

本实用新型的用于低频磁场测量仪校准探头的定位装置,增强了探头固定的稳定性,实现了高度可调、角度可控,提高了校准结果的准确性和重复性。本实用新型的用于低频磁场测量仪校准探头的定位装置,探头可以在高度上调节,在角度上控制,应用范围广。本装置所有部件的材料均为绝缘材料,具有足够的强度,并且不干扰内部磁场的分布。

附图说明

图1是现有探头的结构示意图。

图2是本实用新型的结构示意图。

图3是本实用新型实施例的结构示意图。

图中标号说明:

1、底座;2、立柱;3、主刻度盘;4、副刻度盘;5、第一连杆;51、第一安装座;52、第二安装座;6、第二连杆;61、第三安装座;7、探头。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本实用新型,并不用于限制本实用新型。

为了便于描述,在这里可以使用空间相对术语,如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等,用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是,空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如,如果附图中的器件被倒置,则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而,示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位),并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

图1至图3示出了本实用新型用于低频磁场测量仪校准探头的定位装置的一种实施方式,包括底座1、立柱2、安装架、主刻度盘3、副刻度盘4,立柱2固定于底座1上。

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