[实用新型]测试夹具及探测器MTF测试系统

说明书

技术领域

本实用新型属于探测器测试领域，特别是涉及一种测试夹具及探测器MTF测试系统。

背景技术

X射线探测器经历了百年的发展，由传统的胶片式逐渐发展至当今的数字式，这其中又经历了CR探测器、CCD X射线探测器、CCD拼接式X射线探测器以及目前最为主流的X射线平板探测器。X射线平板探测器可以捕获X光，将被测物体的X射线影像转变为数字图像以便于查看、分析、存储以及传播，其被广泛应用于医疗、生物、材料和工业检测等领域。

X射线平板探测器可分为直接成像式和间接成像式两种，直接成像式探测器直接将X射线转变为电信号，而间接成像式探测器结构由闪烁材料或荧光材料层、具有光电二极管作用的非晶硅层以及TFT阵列构成，先采用一层闪烁体或荧光材料将X射线变为可见光，再由可见光探测器将其转变为电信号。在获取电信号后，探测器通过滤波、放大以及模数转换后，将数据按照一定的格式传送给计算机进行显示和存储。

MTF为探测器对比度空间频率转移函数，用来表示探测器对于图像细节的分辨能力，在系统应用的空间频率范围内，MTF值越高，则空间频率特性越好，对于影像系统来说，可以获得更好的图像对比度。由于对探测器进行MTF测试时，需要将钨片以一定角度的要求放置，而现有技术中并没有相应的测试夹具，因此，需要操作人员按照经验摆放钨片，如果角度不在要求范围内，需要多次调整，直到角度符合要求，而且因为不同批次的测试、不同操作人员的经验关系等因素的影响，每次测试时钨片摆放的角度、位置均不相同，导致每次测试结果都会有相应的偏差；并且多次调整钨片位置也会浪费测试时间。

鉴于此，有必要设计一种新的测试夹具及探测器MTF测试系统用以解决上述技术问题。

实用新型内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种测试夹具及探测器MTF测试系统，解决了现有技术中对探测器进行MTF测试时钨片的摆放位置及角度均不相同，影响测试结果及测试时多次调整钨片，浪费时间的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本实用新型提供一种测试夹具，所述测试夹具包括

夹具本体；

位于所述夹具本体任意两侧边的固定装置；

位于所述夹具本体上、并贯穿所述夹具本体的钨片放置区；以及

位于所述钨片放置区两侧的把手；

其中，在水平方向上，所述钨片放置区与夹具本体具有一定的倾斜角度。

优选地，所述倾斜角度为1.5～3度。

优选地，所述夹具本体的厚度大于等于0.2cm。

优选地，所述固定装置为与所述夹具本体任意两侧边连接的螺孔，及与所述螺孔配合的螺钉。

本实用新型还提供一种探测器MTF测试系统，所述测试系统包括：

探测器；

如上述任一项所述的测试夹具，其中，所述测试夹具通过固定装置固定在所述探测器的照射面上；以及

位于所述钨片放置区内的钨片。

优选地，所述夹具本体的形状与探测器照射面的形状相同。

优选地，所述夹具本体的各侧边分别与对应的探测器照射面的各侧边对齐。

优选地，所述钨片放置区的形状与钨片的形状相同。

优选地，所述钨片放置区的各侧边长度大于对应的钨片的各侧边长度。

如上所述，本实用新型的测试夹具及探测器MTF测试系统，具有以下有益效果：通过固定装置将所述测试夹具固定在探测器照射面上，并在所述钨片放置区放置钨片，由于钨片放置区本身就是带有一定倾斜角度，所以在使用该测试夹具时，无需在人为调整钨片的摆放位置及角度，而且一次实现测试，减少测试时间的浪费。

附图说明

图1显示为本实用新型实施例一所述测试夹具的结构示意图。

图2显示为本实用新型实施例二所述测试系统的结构示意图。

图3显示为本实用新型实施例二所述测试系统移除测试夹具后的结构示意图。

元件标号说明

1测试夹具

11 夹具本体

12 固定装置

13 钨片放置区

14 把手

2探测器

3钨片

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本实用新型的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本实用新型的其他优点与功效。本实用新型还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本实用新型的精神下进行各种修饰或改变。