[发明专利]基于粗锥光纤干涉结构光纤激光器的温度测试系统

权利要求书

1.基于粗锥光纤干涉结构光纤激光器的温度测试系统，其特征在于，包括泵浦源(1)、波分复用器(2)、掺杂光纤(3)、耦合器(4)、光谱仪(5)和粗锥光纤(6)；所述波分复用器(2)、掺杂光纤(3)、耦合器(4)和粗锥光纤(6)依次分别通过光纤连接成串通结构；所述泵浦源(1)通过光纤与波分复用器(2)熔接；所述光谱仪(5)通过光纤与耦合器(4)熔接。

2.根据权利要求1所述的基于粗锥光纤干涉结构光纤激光器的温度测试系统，其特征在于，所述光纤为9/125μm单模光纤。

3.一种光纤激光器的温度测试系统及其性能测试方法，其特征在于，具体包括如下步骤：

步骤1、首先选取泵浦源(1)、波分复用器(2)、掺杂光纤(3)、耦合器(4)、光谱仪(5)和粗锥光纤(6)和若干根光纤，备用；

步骤2、将步骤1中选取的波分复用器(2)、掺杂光纤(3)、耦合器(4)、和粗锥光纤(6)分别通过光纤依次熔接成串通结构，再将泵浦源(1)通过光纤熔接在波分复用器(2)上，最后将光谱仪(5)通过光纤熔接在耦合器(4)上；

步骤3、对步骤2中构建的光纤激光器进行温度标定；光纤的主要材料是石英玻璃，通过温度对玻璃的影响特性，可以确定温度对光纤长度的影响；改变整体谐振腔的周围温度，引起谐振腔腔长发生相应的膨胀或收缩，从而导致纵模发生漂移，当温度升高时，腔长伸长，纵模红移；当温度降低时，腔长减小，纵模蓝移；在设定温度范围内逐渐增高或降低温度，记录纵模漂移的数值，得到纵模随温度变化的曲线；

步骤4、通过得到温度与激光纵模之间的标定曲线对温度进行测量，利用温度标定曲线，确定谐振腔所处温度；从而完成了对光纤激光器的的性能测试。