[发明专利]数字化多路符合测量放射性氙装置

权利要求书

1.一种数字化多路符合测量放射性氙装置的使用方法，包括Si-PIN探测器、PIPS探测器、密闭的气体测量室、前置放大器、前端电路、高速数字化脉冲采集器ADC、高性能现场可编程逻辑门阵列FPGA、STM32单片机、PC机、能谱数据处理上位机软件、SPI总线、CAN总线、USB；利用放射性氙同位素发射的内转换电子与X射线级联事件的衰变特性，采用Si-PIN X射线探测器，与PIPS电子探测器以及相关电子学电路和配套软件，构建数字化多路符合测量系统，其特征在于：首先对放射性氙测量室进行抽真空，然后将待测样品放射性氙气体通过快插接头引入到测量室，进样完成后，关闭阀门保持测量室密封状态；然后，依次给Si-PIN 探测器，PIPS探测器，前端电路，高速ADC和FPGA供电，运行一段时间大约1min使系统稳定；最后，打开上位机软件，设置符合时间/幅度窗口参数，开启测量，测量时长取决于关注核素的符合计数的统计涨落，测量结束后，关闭数字化多路符合测量放射性氙装置，按照公式（1）计算放射性氙同位素活度浓度：

式中，Nci—关注核素i能区的符合计数；λi—关注核素i的衰变常数，s^-1；ε—符合探测效率，cps/Bq；Pei—关注核素i的内转换电子的发射概率；PXi—关注核素i的特征X射线的发射概率；

V—样品的体积，mL；t1—样品测量时长，s。