[发明专利]一种用于退偏器性能检测的方法及装置

权利要求书

1.一种用于退偏器性能检测的装置，其特征在于它的结构为：点状光源（1）发出的光经反射准直镜（2）反射，再依次通过起偏器（9）、扩束系统、待检测退偏器（11）、缩束系统、检偏器（10）后，经聚焦镜（7）聚焦，在探测器（8）上记录得到的光信号。

2.根据权利要求1所述的一种用于退偏器性能检测的装置，其特征在于：反射准直镜（2）为抛物面镜。

3.根据权利要求1所述的一种用于退偏器性能检测的装置，其特征在于：所述的扩束系统和缩束系统采用伽利略或开普勒望远结构，包括两块离轴抛物面镜；扩束系统和缩束系统的结构参数相同，使用状态为结构倒置，扩束系统的入射端为缩束系统的出射端。

4.根据权利要求1所述的一种用于退偏器性能检测的装置，其特征在于：所述的探测器（8）为光电探测器或红外制冷探测器。

5.根据权利要求1所述的一种用于退偏器性能检测的装置，其特征在于：所述的起偏器（9）和检偏器（10）为线栅偏振片，消光比大于100，口径小于50mm。

6.根据权利要求1所述的一种用于退偏器性能检测的装置，其特征在于：所述的聚焦镜（7）为抛物面镜。

7.一种用于退偏器性能检测的方法，其特征在于包括如下步骤：

步骤1：点状光源（1）发出的光经反射准直镜（2）反射，通过起偏器（9），再经聚焦镜（7）进入探测器（8）；调整起偏器透振轴至水平和垂直方向，在探测器上分别记录两种线偏振态下的光信号值；

步骤2：点状光源（1）发出的光经反射准直镜（2）反射，依次通过起偏器（9）、扩束系统、缩束系统，再经聚焦镜（7）进入探测器（8）；调整起偏器透振轴至水平和垂直方，在探测器上分别记录两种线偏振态下的光信号值；

步骤3：依据步骤1和步骤2记录的光信号值，得到扩束系统和缩束系统的透过率及穆勒矩阵；

步骤4：构建检测系统，它的结构为：点状光源（1）发出的光经反射准直镜（2）反射，依次通过起偏器（9）、扩束系统、待检测的退偏器（11）、缩束系统、检偏器（10）后，再经聚焦镜（7）聚焦，进入探测器（8）；在所述的检测系统中，保持检偏器透振轴与退偏器晶体光轴于一定角度，起偏器以一定角度分辨率绕光路光轴旋转360°，探测器分别记录对应角度所获得的光信号值，得到光信号的最大、最小值；采用偏振灵敏度计算方法，得到检测系统的偏振灵敏度；

步骤5：以步骤3和4得到的结果，依据穆勒矩阵和斯托克斯矢量计算公式，采用偏振敏感度计算方法，得到待检测退偏器的偏振灵敏度。

8.根据权利要求7所述的一种用于退偏器性能检测的方法，其特征在于：步骤4中，起偏器绕光路光轴旋转的角度分辨率为1°。

9.根据权利要求7所述的一种用于退偏器性能检测的方法，其特征在于：步骤4中，保持检偏器透振轴与退偏器晶体光轴于45°。