[发明专利]电缆绝缘层电老化试验方法及试验装置

说明书

本发明涉及一种电缆绝缘层电老化试验方法，包括以下步骤：获取多片模拟试样；将多片所述模拟试样分别以不同的分布距离设置于试验电芯外；对所述试验电芯施加电压后得到多片电老化试样。上述电缆绝缘层电老化试验方法，对试验电芯施加电压后，使设于试验电芯外的多片模拟试样处于试验电芯产生的磁场中进行电老化，后期只需直接对多片电老化试样进行分析检测，判断电老化试样的电老化程度，便可判断出待测电缆中电测绝缘层的老化情况。不需要用待测电缆中电老化后的待测绝缘层切片，不会对电老化试样的微观结构产生破坏，不会影响后续电老化试样的研究，提高电缆绝缘层电老化试验结果的准确性。

技术领域

本发明涉及电缆领域，特别是涉及电缆绝缘层电老化试验方法及实验装置。

背景技术

电缆在输配电的领域中占据着重要的角色，用于传输和分配大功率电能。而电缆在长期服役过程中受到所处环境中多重应力作用会发生老化，老化后的绝缘层容易被击穿，进而会导致大面积停电，带来重大的经济损失。所以，通过电老化试验研究电缆绝缘层的老化程度至关重要。一般先获得电老化后的试样，然后对该试样进行物理、化学及电特性分析，判断其老化程度。

具体在电缆绝缘层电老化试验中，可以从自然老化达到退役年限的电缆处获得电老化后的试样，但更多的是由人工加速老化得到电老化后的试样。人工加速老化获取试样时，首先对整条电缆施加高电压进行电老化处理，然后从距离电芯不同距离位置处竖直截取试样。但是绝缘层整体呈特定的圆环状，按照距离电芯不同位置处截取多片试样时操作难度较大，截取试样的过程容易产生误差，且截取过程中会对电老化后试样的微观结构造成一定的影响，上述两个因素会对后续研究带来误差，使电缆绝缘层老化试验的结果不够准确。

发明内容

基于此，有必要针对传统的电缆绝缘层老化试验的结果不够准确的问题，提供一种结果更加准确的电缆绝缘层电老化试验方法。

一种电缆绝缘层电老化试验方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取多片模拟试样；

将多片所述模拟试样分别以不同的分布距离设置于试验电芯外；

对所述试验电芯施加电压后得到多片电老化试样。

上述电缆绝缘层电老化试验方法，在试验电芯外设置多片间隔的模拟试样，模拟待测电缆。对试验电芯施加电压后，使设于试验电芯外的多片模拟试样处于试验电芯产生的磁场中进行电老化，多片模拟试样的电老化情况与待测电缆中待测绝缘层对应的不同位置处的电老化情况相同，所以后期只需直接对多片电老化试样进行分析检测，判断电老化试样的电老化程度，便可判断出待测电缆中电测绝缘层的老化情况。不需要用待测电缆中电老化后的待测绝缘层切片，不会对电老化试样的微观结构产生破坏，不会影响后续电老化试样的研究，提高电缆绝缘层电老化试验结果的准确性。

在其中一个实施例中，所述将多片所述模拟试样分别以不同预定距离分布于试验电芯外的步骤具体包括：

将每片所述模拟试样以与所述试验电芯同心圆弧状分布于所述试验电芯外，且每片所述模拟试样所在圆的半径不同。

在其中一个实施例中，所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距离分布于试验电芯外的步骤具体包括：

设置最大的所述分布距离小于或等于待测电缆中待测绝缘层外周面与待测电芯之间的距离。

在其中一个实施例中，所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距离分布于试验电芯外的步骤具体还包括：

在相邻两片所述模拟试样之间设置隔离片。

在其中一个实施例中，所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距离分布于试验电芯外的步骤具体还包括：

在所述试验电芯的外周铺设第一半导体层，多片所述模拟试样中距离所述试验电芯最近的一片铺设于所述第一半导体层的外周。