[发明专利]光电子器件故障定位方法及系统

权利要求书

1.一种光电子器件故障定位方法，其特征在于，其包括如下步骤：

S1、配置光电子器件故障检测中各个环节对应的检测工位点；

S2、获取光电子器件故障检测中各个环节对应的检测内容；根据各个环节对应的检测内容生成检测装置的检测时间信息、检测项目信息；根据检测装置的检测时间信息、检测项目信息生成被测光电子器件到达各个环节对应的检测工位点的时间点信息、停留时间信息以及检测装置测试命令；

S3、根据被测光电子器件到达各个环节对应的检测工位点的时间点信息控制被测光电子器件到达检测工位点的时间点，并通过检测装置根据测试命令对光电子器件当前环节的测试内容进行测试；并记录本次测试结果信息；重复执行本步骤直至所有环节测试完毕；

S4、根据所有测试结果信息获取光电子器件的故障定位信息。

2.如权利要求1所述的光电子器件故障定位方法，其特征在于，

所述步骤S4还包括：对光电子器件的故障进行分类获得故障数据库，通过故障数据库来分析获取光电子器件的故障定位信息。

3.如权利要求2所述的光电子器件故障定位方法，其特征在于，所述步骤S4中对光电子器件的故障进行分类获得故障数据库，通过故障数据库来分析获取光电子器件的故障定位信息包括：

对光电子器件的故障进行分类获得故障数据库，所述故障数据库中包括光电子器件的故障对应的特征信息；

为特征信息配置一唯一识别码，建立唯一识别码与对应光电子器件的故障的映射关系；

通过唯一识别码与对应光电子器件的故障的映射关系以及测试结果信息的匹配结果分析获取光电子器件的故障定位信息。

4.一种光电子器件故障定位系统，其特征在于，其包括如下单元：

工位点配置单元，用于配置光电子器件故障检测中各个环节对应的检测工位点；

指令配置单元，用于获取光电子器件故障检测中各个环节对应的检测内容；根据各个环节对应的检测内容生成检测装置的检测时间信息、检测项目信息；根据检测装置的检测时间信息、检测项目信息生成被测光电子器件到达各个环节对应的检测工位点的时间点信息、停留时间信息以及检测装置测试命令；

测试单元，用于根据被测光电子器件到达各个环节对应的检测工位点的时间点信息控制被测光电子器件到达检测工位点的时间点，并通过检测装置根据测试命令对光电子器件当前环节的测试内容进行测试；并记录本次测试结果信息；重复执行本步骤直至所有环节测试完毕；

故障定位单元，用于根据所有测试结果信息获取光电子器件的故障定位信息。

5.如权利要求4所述的光电子器件故障定位系统，其特征在于，

所述故障定位单元还包括：对光电子器件的故障进行分类获得故障数据库，通过故障数据库来分析获取光电子器件的故障定位信息。

6.如权利要求5所述的光电子器件故障定位系统，其特征在于，所述故障定位单元中对光电子器件的故障进行分类获得故障数据库，通过故障数据库来分析获取光电子器件的故障定位信息包括：

对光电子器件的故障进行分类获得故障数据库，所述故障数据库中包括光电子器件的故障对应的特征信息；

为特征信息配置一唯一识别码，建立唯一识别码与对应光电子器件的故障的映射关系；

通过唯一识别码与对应光电子器件的故障的映射关系以及测试结果信息的匹配结果分析获取光电子器件的故障定位信息。