[发明专利]飞针测试的基准网络选取方法和装置

说明书

一种飞针测试的基准网络选取方法、装置、计算机设备和存储介质，该方法包括：获取待测印刷电路板中基准网络、层号、基准网络和测试网络之间的对应关系；获取测点数量最多的基准网络参考层号；根据层号与基准网络的对应关系，将层号与参考层号一致基准网络作为备选基准网络；根据测试网络和基准网络的对应关系，确定各备选基准网络对应的测试网络；各备选基准网络为测试网络的选取结果。通过基准网络与层、测试网络之间的关系，获取与测点数量最多的基准网络，并将其作为备选的基准网络，确定备选基准网络对应的测试网络后便可得出备选的基准网络是合适的基准网络，步骤简单有效，能够很好的提升合适的基准网络的选取效率。

技术领域

本发明涉及飞针测试技术领域，特别是涉及一种飞针测试的基准网络选取方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

在利用飞针测试机对印制电路板(PCB)进行测试时，测试人员会利用CAM软件将PCB的GerBer文件转换成飞针设备测试用的Ipc文件，通常一块PCB上有数千甚至上万的测试点，如果仅仅通过利用欧姆定律对各个网络进行电阻测量来判断线路的是否存在异常则需要大量的时间，因此目前通常采用电容法结合电阻验证的方法来判断线路是否存在异常。

电容测试法是将一个弦波的信号加入基准网络，由线路层来取得相位落后的角度，从而取得电容值，最后通过比较电容值与良品电容值的大小来判断线路是否存在异常，然后再用电阻法来验证，而此方法的关键就是基准网络的选取，因为每个待测网络一般会有多条基准网络，只有选取最合适的基准网络才能获取准确的电容值。

但是在现有技术中，往往采用实际测量的方式来获取基准网络，每条待测网络可能存在多条基准网络，实际测量会依次获取待测网络相对于每条基准网络的电容值，然后找出最大电容值对应的基准网络作为最终的基准网络。这种选取方法势必导致飞针整机测试效率的降低。

发明内容

基于此，有必要针对实际测量获取基准网络导致测试效率降低的问题，提供一种飞针测试的基准网络选取方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种飞针测试的基准网络选取方法，包括：

获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系；

获取测点数量最多的基准网络所在的参考层号；

根据层号与基准网络的对应关系，将层号与获取的参考层号一致基准网络作为备选基准网络；

根据测试网络和基准网络的对应关系，确定各备选基准网络所对应的测试网络；各备选基准网络为测试网络的选取结果。

在一个实施例中，飞针测试的基准网络选取方法还包括：当根据层号与基准网络的对应关系，不存在层号与获取的参考层号一致基准网络时，删除参考层号所对应的基准网络；

返回获取测点数量最多的基准网络所在的参考层号的步骤，直至存在层号与获取的参考层号一致基准网络。

在一个实施例中，获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系的步骤，包括：

读取被测印刷线路板的测试文件；

根据测试文件，得到待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

在一个实施例中，根据测试文件，得到待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系的步骤，包括：

将每条待测网络的所有基准网络存储于基准网络集合中；

将基准网络按层存储；

将测试网络与基准网络结合存储。