[发明专利]X射线背散射探测结构及成像方法在审
| 申请号： | 201711490186.3 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN108333204A | 公开（公告）日： | 2018-07-27 |
| 发明（设计）人： | 沈天明;陈嘉敏;李维姣;丁志平;刘伟豪;常青青;王德凯 | 申请（专利权）人： | 公安部第三研究所 |
| 主分类号： | G01N23/203 | 分类号： | G01N23/203 |
| 代理公司： | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人： | 刘常宝 |
| 地址： | 200031*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 成像 探测结构 背散射 康普顿背散射 物体相对位置 强度要求 探测阵列 差分式 分辨率 检测 减小 射线 | ||
1.X射线背散射探测结构，其特征在于，采用差分式康普顿背散射探测阵列结构。
2.根据权利要求1所述的X射线背散射探测结构，其特征在于，所述差分式康普顿背散射探测阵列结构包括分别布置在扇形扫描的垂直面两侧的一组背散射探测阵列，其中一背散射探测阵列相对于另一背散射探测阵列水平位移1/2单个探测单元宽度，使得两组探测数据在一个水平方向上错位。
3.根据权利要求1所述的X射线背散射探测结构，其特征在于，所述差分式康普顿背散射探测阵列结构包括分别布置在扇形扫描的垂直面两侧的一组背散射探测阵列，一组背散射探测阵列水平排列，并在其纵向上移动1/2或者1个探测单元长度加装另一组背散射探测阵列。
4.根据权利要求1所述的X射线背散射探测结构，其特征在于，所述差分式康普顿背散射探测阵列结构包括分别布置在扇形扫描的垂直面两侧的一组背散射探测阵列，以及一低能滤片，所述低能滤片覆盖在一侧的背散射探测阵列准直器开口处。
5.X射线背散射成像方法，其特征在于，所述成像方法基于差分式康普顿背散射探测阵列获取差分散射信号，据此进行成像。
6.根据权利要求5所述的X射线背散射成像方法，其特征在于，所述成像方法中通过水平差分探测，得到两组在一个水平方向上错位的探测数据，通过求均值将原有一行的数据量扩大一倍。
7.根据权利要求5所述的X射线背散射成像方法，其特征在于，所述成像方法中通过高度差分探测，得到在垂直方向上两组错位的探测数据，获取物体不同深度的散射信号。
8.根据权利要求5所述的X射线背散射成像方法，其特征在于，所述成像方法中通过能量差分探测，获取被探测物体两种深度下高低两种能量段的四组散射信号，再通过计算得到物质密度与等效原子序数的信息。
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