[发明专利]三维激光打标方法、装置及存储介质有效
申请号: | 201711488794.0 | 申请日: | 2017-12-30 |
公开(公告)号: | CN108015428B | 公开(公告)日: | 2019-09-13 |
发明(设计)人: | 盛辉;李启程;黄小龙;周威;张磊;张凯;周红林;贾长桥;刘伟;刘文慧;梁君屏 | 申请(专利权)人: | 深圳泰德激光科技有限公司 |
主分类号: | B23K26/362 | 分类号: | B23K26/362;B23K26/70 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 石佩 |
地址: | 518051 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 三维 激光 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种三维激光打标方法,其特征在于,用于校正前聚焦振镜式三维激光打标系统的焦距;所述方法包括:
以与一束出射激光平行的方向为一坐标轴建立三维直角坐标系,并将所述前聚焦振镜式打标系统的所述出射激光的聚焦深度划分为N个等分点,通过各等分点建立相应的焦平面;其中,N为正整数;
在每一个所述焦平面上标记出若干个节点,以校准各所述焦平面;
获取待加工工件上的打标点在所述三维直角坐标系中的原始坐标,并依据所述打标点的原始坐标将所述打标点所在焦平面或与所述打标点距离最近的焦平面内的至少一个节点作为校正节点;
根据所述校正节点的坐标校正所述打标点的坐标,得到打标点的校正坐标;
根据所述打标点的校正坐标和激光出射点的坐标计算该打标点与所述激光出射点之间的距离,将该距离设为实际焦距进行打标。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述聚焦深度所在的方向为所述三维直角坐标系的Z轴,以其中一个焦平面为XY平面;
所述校准各所述焦平面,并在每一个焦平面上标记出若干个节点的步骤包括:
以Z轴为中心轴,将各个焦平面的尺寸校正至预设尺寸;
在每一个焦平面上标记出若干个呈阵列分布的节点,对每个节点的坐标进行校正。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取待加工工件上的打标点在所述三维直角坐标系中的原始坐标,并依据所述打标点的原始坐标将与该打标点对应的节点作为校正节点的步骤包括:
获取待加工工件上的打标点在所述三维直角坐标系中的原始坐标,并依据所述打标点的原始坐标确定该打标点对应的焦平面;其中,所述打标点对应的焦平面为校正面;
在所述校正面上确定与所述打标点最近的四个节点,这四个节点为所述打标点的校正节点。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述在每一个焦平面上标记出若干个呈阵列分布的节点,对每个节点的坐标进行校正的步骤包括:
计算出每个所述节点的预设坐标与相应的实际坐标之间的坐标补偿值,并存储每个所述节点的坐标补偿值;
所述根据所述校正节点的坐标校正所述打标点的坐标,得到打标点的校正坐标的步骤包括:
根据各校正节点的坐标补偿值及预设的校正算法校正所述打标点的坐标,得到打标点的校正坐标。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述获取待加工工件上的打标点在所述三维直角坐标系中的原始坐标,并依据所述打标点的原始坐标将与该打标点对应的节点作为校正节点的步骤包括:
根据所述打标点的原始坐标和各所述焦平面的坐标判断所述打标点是否位于一焦平面上;在所述打标点未落在任一焦平面上时,与该打标点最近的焦平面为所述校正面;在所述打标点落在一焦平面上时,所述打标点所在的焦平面为所述校正面。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述打标点的校正坐标和激光出射点的坐标计算该打标点与所述激光出射点之间的距离,将该距离设为实际焦距进行打标的步骤之后包括:
将所述前聚焦振镜式打标系统的焦距调整为所述实际焦距,以对所述打标点打标;
在所述打标点不是最后一个打标点时,获取待加工工件上的下一打标点在所述三维直角坐标系中的原始坐标;在所述打标点是最后一个打标点时,结束流程。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳泰德激光科技有限公司,未经深圳泰德激光科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711488794.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。