[发明专利]触控品及在制作过程中对触控屏尺寸的稳定性的管控方法

说明书

本发明涉及一种触控品及在制作过程中对触控屏尺寸的稳定性的管控方法。该触控品，包括：基底，包括多个触控屏区域，多个触控屏区域呈阵列排布；触控复合膜，包括触控单元，触控单元设于触控屏区域，触控单元的数目与触控屏区域的数目相同，且一一对应；局部靶标，局部靶标的数目为多个，多个局部靶标设于基底上，且每四个局部靶标对应一个触控屏区域，四个局部靶标位于触控屏区域外，且分别位于触控屏区域的四个角落。该触控品能准确管控单个触控屏尺寸。

技术领域

本发明涉及触控屏技术领域，特别是涉及一种触控品及在制作过程中对触控屏尺寸的稳定性的管控方法。

背景技术

采用黄光工艺制作触控屏通常包括如下几个步骤：(1)提供能够制作出多个触控屏的原料板，所述原料板包括依次层叠设置的基底、第二导电层及第一导电层；(2)对第一导电层进行第一次黄光工艺(曝光、显影及蚀刻)，得到触控屏的引线，该引线位于触控屏的边框区；(3)对第二导电层进行第二次黄光工艺(曝光、显影及蚀刻)，得到触控屏的触控电极，该触控电极与引线连接，且位于触控屏的可视区；(3)切割原料板以得到单个触控屏。

具体地，请参考附图1，图1为经步骤(3)后得到的触控品10，该触控品10包括多个触控屏12，多个触控屏12呈阵列排布。其中，触控品10的四个角落设置有对位靶标14。为了管控触控屏12尺寸，通常采用3D测试仪器测量触控品10的相邻两对位靶标14之间的距离以及相对的两个对位靶标14之间的距离。由于仅在触控品10的四个角落处形成四个对位靶标14，并不能准确的管控单个触控屏12尺寸。

发明内容

基于此，有必要提供一种能准确管控单个触控屏尺寸的触控品及在制作过程中对触控屏尺寸的稳定性的管控方法。

一种触控品，包括：

基底，包括多个触控屏区域，多个所述触控屏区域呈阵列排布；

触控复合膜，包括触控单元以及局部靶标，所述触控单元设于所述触控屏区域，所述触控单元的数目与所述触控屏区域的数目相同，且一一对应；以及

局部靶标，所述局部靶标的数目为多个，多个所述局部靶标设于所述基底上，且每四个所述局部靶标对应一个所述触控屏区域，四个所述局部靶标位于所述触控屏区域外，且分别位于所述触控屏区域的四个角落。

由于每一触控屏区域对应四个局部靶标，从而可以采用自动光学检查机(AOI)获取每一触控屏区域的相邻两局部靶标之间的距离，进而获取触控屏区域(也即触控屏)尺寸的稳定性数据。该数据如果在预设的数据的误差范围内，则触控屏区域(也即触控屏)的尺寸相对稳定，反之，触控品中存在尺寸不合格的触控屏区域(也即触控屏)。因此上述触控品能管控触控屏区域尺寸的稳定性，为防范不良品发生提供良有力的判读依据。

在其中一个实施例中，所述触控单元包括触控电极及与所述触控电极连接的引线，所述局部靶标包括与所述引线同时形成第一局部靶标，以及与所述触控电极同时形成的第二局部靶标，所述第二局部靶标与所述第一局部靶标间隔设置。从而可以采用自动光学检查机(AOI)获取每一触控屏区域的相邻两第一局部靶标之间的距离，进而获取触控屏区域(也即触控屏)尺寸的稳定性数据。可以采用自动光学检查机(AOI)获取每一局部靶标的第一局部靶标与第二局部靶标之间的距离，进而获取第二次黄光工艺与第一次黄光工艺的对位精度(传统的靶标通常为一个环形结构，无法管控第二次黄光工艺与第一次黄光工艺的对位精度)。而且每一局部靶标的第一局部靶标与第二局部靶标之间的距离可以佐证触控屏区域尺寸的稳定性。

在其中一个实施例中，所述第一局部靶标为十字架结构，所述第二局部靶标包括四个直角结构，四个所述直角结构分别以背靠的方式设于所述第一局部靶标的四个开口内。如此，还可以通过识别图案的方式来佐证第二次黄光工艺与第一次黄光工艺的对位精度，以及触控屏区域尺寸的稳定性。