[发明专利]飞针测试机测试方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本发明提供的飞针测试机的测试方法、装置、计算机设备和存储介质，该方法通过读取被测印刷线路板的测试文件；根据测试文件得到测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息；根据测试点信息验证各测试点的导通性；根据各测试点的导通性确定测试网络信息中的待测网络；计算各待测网络的相位差值，并根据邻接网络信息中相位差值相似的待测网络得到验证网络；当验证网络中的测试网络不满足绝缘性要求时，从待测网络中剔除对应的测试网络，得到被测印刷线路板的良品网络的信息。该方法不仅能节约飞针测试机的测试时间，还能提高测试效率。

技术领域

本发明涉及电路板测试设备技术领域，特别是涉及一种飞针测试机测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

飞针测试机是针对元件布置高密度、层数多、布线密度大、测点距离小的印刷线路板进行测试的一种仪器，飞针测试机具有精细节距，不受网格限制，测试灵活，速度快等特点，并且能对测试过程和故障点进行实时监控，保证测试的准确性。

传统中飞针测试机测试印刷线路板首先会选择一块无异常的印刷线路板进行测试，此无异常的印刷线路板为测试参照板，获取该测试参照板的数据作为参考，后续测试其他电路板时以此数据为标准数据进行比较选择，但是在测试该参照板时，需要把参照板上的测试点全都进行反复测试才能获取到所需要的完整数据，导致耗费大量的测试时间，影响测试效率。

发明内容

基于此，本发明有必要提供一种能节约测试时间，提高测试效率的飞针测试机测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

一种飞针测试机测试方法，包括：

获取被测印刷线路板的测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息；

根据所述测试点信息验证各测试点的导通性；

根据各所述测试点的导通性的验证结果，确定所述测试网络信息中的待测网络；

计算各所述待测网络的相位差值；

根据所述邻接网络信息，将存在与其邻接网络的相位差值相似的待测网络作为验证网络；

当所述验证网络中的测试网络不满足绝缘性要求时，从所述待测网络中剔除对应的测试网络，得到被测印刷线路板的良品网络的信息。

在其中一种实施例中，所述测试点信息包括测试点和测试网络的对应关系；

根据各所述测试点的导通性的验证结果，确定所述测试网络信息中的待测网络的步骤，包括：根据所述测试点与测试网络的对应关系，从所述测试网络信息中剔除导通性异常的测试点所对应的测试网络，得到待测网络。

在其中一种实施例中，所述测试网络信息包括基准网络和测试网络的对应关系；所述邻接网络信息包括所述测试网络和邻接网络的对应关系；所述邻接网络为与所述测试网络邻接的测试网络；

所述根据所述邻接网络信息，将存在与其邻接网络的相位差值相似的待测网络作为验证网络的步骤，包括：

根据所述基准网络和测试网络的对应关系，利用相位差法获取各基准网络对应的待测网络的相位差值；

根据所述测试网络和邻接网络的对应关系，判断所述待测网络的相位差值与其邻接网络的相位差值是否相似；

选择与所述邻接网络相位差值相似的待测网络作为验证网络。

在其中一种实施例中，所述当所述验证网络中的测试网络不满足绝缘性要求时，从所述待测网络中剔除相对应的测试网络，得到被测印刷线路板的良品网络的信息的步骤，包括：

验证所述验证网络中的测试网络的各测试点的绝缘性；

从所述待测网络中剔除绝缘性异常的所述测试点所对应的测试网络，得到良品网络的信息。