[发明专利]CVD石墨烯复合型掺杂结构及其制备方法有效
| 申请号: | 201711469778.7 | 申请日: | 2017-12-29 |
| 公开(公告)号: | CN108198746B | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
| 发明(设计)人: | 徐鑫;姜浩;马金鑫 | 申请(专利权)人: | 重庆墨希科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
| 代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 刘文娟 |
| 地址: | 401329 重*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | cvd 石墨 复合型 掺杂 结构 及其 制备 方法 | ||
1.CVD石墨烯复合型掺杂结构的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、在催化衬底(100)上生成具有二维连续结构的石墨烯层(101);
S2、对步骤S1所述的石墨烯层(101)进行活化处理;所述活化处理包括以下步骤:
S201、将催化衬底(100)和石墨烯层(101)至于密闭腔体内;
S202、降低密闭腔室内压力,直到密闭腔室内压力降至1~50Pa;
S203、向密闭腔室内通入活化处理气体;所述活化处理气体为氢气、氨气、一氧化碳、二氧化氮中的一种;所述活化处理气体的分压为50-600Pa;
S204、加热使得密闭腔室内的温度升到200-500℃,然后保温保压;
S205、关闭加热,保持真空度并降温至室温,卸去真空取出,得到催化衬底(100)和石墨烯层(101),所述石墨烯层(101)活化为CVD石墨烯层(102);
S3、在步骤S2所述活化后的CVD石墨烯层(102)上形成复合掺杂层(200),得到由催化衬底(100)、CVD石墨烯层(102)、复合掺杂层(200)依次组成的复合结构;
S4、在步骤S3所述的复合掺杂层(200)上形成封装层(300),得到由催化衬底(100)、CVD石墨烯层(102)、复合掺杂层(200)、封装层(300)由下至上依次组成的复合结构;
S5、分离催化衬底(100),得到由CVD石墨烯层(102)、复合掺杂层(200)、封装层(300)由下至上依次组成的复合结构;
S6、将步骤S5得到的由活化石墨烯层(102)、掺杂层(210)、封装层(310)依次组成的复合结构整体旋转180°,放置到目标基底(400)上,得到依次由CVD石墨烯层(102)、复合掺杂层(200)、封装层(300)、目标基底(400)组成的复合结构。
2.如权利要求1所述的CVD石墨烯复合型掺杂结构的制备方法,其特征在于:步骤S202中密闭腔室内的压力范围为1~10Pa。
3.如权利要求1所述的CVD石墨烯复合型掺杂结构的制备方法,其特征在于:步骤S203中,所述活化处理气体分压为75~130Pa。
4.如权利要求1所述的CVD石墨烯复合型掺杂结构的制备方法,其特征在于:步骤S204中,加热使得密闭腔室内的温度升到300~350℃。
5.如权利要求1所述的CVD石墨烯复合型掺杂结构的制备方法:在步骤S3中形成的复合掺杂层(200)由导电高分子构成,所述复合掺杂层(200)的材料为PSS/PEDOT水分散液。
6.如权利要求1所述的CVD石墨烯复合型掺杂结构的制备方法,其特征在于:在步骤S3中所述复合掺杂层(200)形成方法为非接触涂布,采用狭缝涂布。
7.如权利要求1所述的CVD石墨烯复合型掺杂结构的制备方法,其特征在于:在步骤S3中形成的复合掺杂层(200)的数均厚度为20~50nm。
8.如权利要求1所述的CVD石墨烯复合型掺杂结构的制备方法,其特征在于:步骤S4中形成的封装层(300)形成时间在CVD石墨烯层(102)活化之后1h内。
9.如权利要求1所述的CVD石墨烯复合型掺杂结构的制备方法,其特征在于:步骤S4中形成的封装层(300)为透明体,且对水气、氧气的透过率分别小于30g/(m2·24h)和10cm3/(m2·24h·1atm);所述封装层(300)的材料为聚对二甲苯,数均厚度为2~10微米。
10.如权利要求1至9任意一项权利要求所述的制备方法制备的CVD石墨烯复合型掺杂结构,其特征在于:包括从上至下依次设置的CVD石墨烯层(102)、复合掺杂层(200)、封装层(300)、目标衬底层(400)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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