[发明专利]图传校准方法、装置、存储介质及电子设备有效
申请号: | 201711466135.7 | 申请日: | 2017-12-28 |
公开(公告)号: | CN109981187B | 公开(公告)日: | 2022-02-15 |
发明(设计)人: | 林晓;詹松龄;陈军 | 申请(专利权)人: | 北京小米松果电子有限公司 |
主分类号: | H04B17/11 | 分类号: | H04B17/11;H04B17/21 |
代理公司: | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人: | 魏嘉熹;南毅宁 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 校准 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
1.一种图传校准方法,其特征在于,应用于电子设备,所述方法包括:自动频率校准步骤、自动增益校准步骤和/或自动功率校准步骤,其中:
所述自动频率校准步骤包括:
根据预设的测试配置以及用户设备的图传模块在预设频率下输出的单音频率测试信号,确定所述图传模块提供的晶振频率是否满足规定的校准要求;
所述自动增益校准步骤包括:
根据所述测试配置以及测量仪表在所述预设频率下输出的单音增益测试信号,依次对所述图传模块在预设增益校准范围内的所有功率值对应的增益值进行校准;
所述自动功率校准步骤包括:
根据所述测试配置以及所述图传模块在所述预设频率下输出的功率测试信号,依次对所述图传模块在预设功率校准范围内的所有功率值对应的控制字进行校准;
所述根据所述测试配置以及所述图传模块在所述预设频率下输出的功率测试信号,依次对所述图传模块在预设功率校准范围内的所有功率值对应的控制字进行校准,包括:
与所述用户设备进行交互,获取所述测试配置,其中,所述测试配置中包括自动功率校准的初始码表和所述预设功率校准范围;
控制所述图传模块根据所述初始码表中的控制字依次输出所述预设功率校准范围内每个功率值对应的功率测试信号;
控制所述测量仪表分别获取每个功率测试信号的功率值;
根据所述每个功率测试信号的功率值以及所述初始码表,对所述初始码表进行校准;
所述根据所述每个功率测试信号的功率值以及所述初始码表,对所述初始码表进行校准,包括:
在所述初始码表中确定所述功率测试信号的功率值对应的控制字;
根据所述功率测试信号的功率值对应的控制字,对所述初始码表进行校准;
所述根据预设的测试配置以及用户设备的图传模块在预设频率下输出的单音频率测试信号,确定所述图传模块所提供的晶振频率是否满足校准要求,包括:
根据所述测试配置,控制所述用户设备确定第一频率控制字以及第二频率控制字,其中,所述第一频率控制字是初始频率控制字,所述第二频率控制字是根据所述第一频率控制字在预设变化范围内以预设固定值进行调整确定的;
控制所述图传模块在所述预设频率下分别输出所述第一频率控制字对应的第一单音频率测试信号,以及所述第二频率控制字对应的第二单音频率测试信号;
根据所述第一单音频率测试信号以及所述第二单音频率测试信号,控制所述测量仪表分别获取对应的第一频偏和第二频偏;
根据所述第一频率控制字、所述第二频率控制字、所述第一频偏以及所述第二频偏,确定第三频率控制字;
根据所述第三频率控制字,确定所述晶振频率是否满足所述校准要求;
当满足所述校准要求时,确定完成所述自动频率校准步骤。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一频率控制字、所述第二频率控制字、所述第一频偏以及所述第二频偏,确定第三频率控制字,包括:
将所述第二频率控制字和所述第一频率控制字的差值,与所述第二频偏和所述第一频偏的差值的比值,确定为斜率值;
将所述斜率值和所述第一频偏的乘积与所述第一频率控制字之差,确定为所述第三频率控制字。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第三频率控制字,确定所述晶振频率是否满足所述校准要求,包括:
控制所述图传模块输出与所述第三频率控制字对应的第三单音频率测试信号;
控制所述测量仪表获取所述第三单音频率测试信号对应的第三频偏;
根据所述第三频偏,确定所述晶振频率是否在预设频率偏移范围内;
当在所述频率偏移范围内时,确定所述晶振频率满足所述校准要求;
当不在所述频率偏移范围内时,确定所述晶振频率不满足所述校准要求。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京小米松果电子有限公司,未经北京小米松果电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711466135.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。