[发明专利]一种小型化宽带晶体滤波器的加工方法在审
| 申请号: | 201711461997.0 | 申请日: | 2017-12-28 |
| 公开(公告)号: | CN108063602A | 公开(公告)日: | 2018-05-22 |
| 发明(设计)人: | 彭胜春;阳皓;唐先莉;米伟;陈仲涛;许卫群;陈冬梅;李菲;李琼;陈映梅;唐平;杨莉 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十六研究所 |
| 主分类号: | H03H1/00 | 分类号: | H03H1/00;H03H9/54;H01L21/3213 |
| 代理公司: | 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 | 代理人: | 黄河 |
| 地址: | 400060 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 小型化 宽带 晶体滤波器 加工 方法 | ||
1.一种小型化宽带晶体滤波器的加工方法,包括,将晶体进行划片得到晶片后将晶片调频,其特征在于,还包括:
制造一个掩膜版,所述掩膜版的形状为晶片上两电极区域的形状;
先将晶片的两面分别进行镀膜,形成沉积金属,作为全电极;
然后再将所述掩膜版分别覆盖在晶片的两面,在晶片的两面分别进行离子刻蚀,刻蚀掉晶片两面掩膜版遮住的电极区域以外的金属部分,最终形成电极。
2.如权利要求1所述的小型化宽带晶体滤波器的加工方法,其特征在于,所述晶片的厚度的取值范围为10μm到500μm。
3.如权利要求1或2所述的小型化宽带晶体滤波器的加工方法,其特征在于,所述电极的厚度的取值范围为50nm到200nm。
4.如权利要求1-3任一项所述的小型化宽带晶体滤波器的加工方法,其特征在于,进行离子刻蚀时,离子的能量为300-400ev,离子束的强度为20-30mA,刻蚀时间为4-6分钟。
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